石墨块杂质元素分析

检测项目

化学成分分析：

• 铁元素含量：≤0.005%（参照ISO21061）
• 硅元素含量：≤0.002%（参照ASTME1251）
• 铝元素含量：≤0.003%

• 密度测定：≥1.8g/cm³
• 硬度检测：≥80HB（布氏硬度测试）
• 粒度分布：D50≤50μm

• 热膨胀系数：≤4.5×10⁻⁶/K
• 热导率测定：≥100W/m·K
• 高温稳定性：≥1500°C无变形

• 电阻率测试：≤10μΩ·m
• 介电强度：≥20kV/mm
• 漏电流分析：≤1mA

• 抗压强度：≥50MPa
• 弯曲强度：≥40MPa（参照ISO178）
• 弹性模量：≥10GPa

• 硼元素含量：≤0.0001%
• 硫元素含量：≤0.001%
• 氮元素含量：≤0.002%

• 表面粗糙度：Ra≤0.8μm
• 孔隙率检测：≤5%
• 氧化层厚度：≤10μm

• 晶粒度评级：G≥6级
• 晶界杂质评估：≤0.1%
• 相组成分析：石墨相≥99%

• 粒度上限：D90≤100μm
• 粒度下限：D10≥5μm
• 粒度分布偏差：±5%

• 重金属含量：铅≤0.0005%，镉≤0.0002%
• 放射性元素：铀≤1ppb，钍≤1ppb
• 有机挥发物：≤10ppm

检测范围

1.核工业用石墨块：用于核反应堆慢化剂，重点检测中子吸收杂质如硼元素含量

2.冶金电极石墨块：应用于电弧炉电极，侧重铁硅杂质对电阻率的影响分析

3.锂离子电池负极石墨块：用作电池材料，核心检测铝硫杂质对电化学性能的干扰

4.航空航天密封件石墨块：用于高温密封，重点评估热膨胀系数和表面杂质

5.化工反应器衬里石墨块：涉及腐蚀环境，检测硼氮杂质对耐蚀性的影响

6.半导体制造部件石墨块：用于晶圆处理，侧重重金属杂质如铅镉的痕量分析

7.燃料电池双极板石墨块：应用于能源系统，核心检测孔隙率和电导率相关杂质

8.高温炉部件石墨块：用于热处理设备，重点分析高温稳定性和硅杂质

9.石墨烯原料石墨块：作为前驱体材料，检测粒度分布和晶界杂质

10.特种工业模具石墨块：用于精密成型，侧重机械强度与表面粗糙度杂质控制

检测方法

国际标准：

• ISO21061石墨中杂质元素分析方法（检测限0.001ppm）
• ASTME1251光谱法元素定量标准（采用电弧放电技术）
• ISO148-1:2022材料机械性能测试方法（冲击试验规范）

• GB/T12345石墨化学成分分析标准（要求更高取样精度）
• GB/T228.1-2021物理性能测试规范（与ISO差异在于应变速率控制）
• GB/T4334-2020热性能评估方法（使用独立温控系统）

检测设备

1.电感耦合等离子体质谱仪：XYZ-9000型（检测限0.001ppb，分辨率0.01u）

2.原子吸收光谱仪：ABC-2000型（波长范围190-900nm，精度±0.5%）

3.X射线衍射仪：DEF-3500型（角度精度0.01°，2θ范围5°-80°）

4.扫描电子显微镜：SEM-500型（分辨率1nm，加速电压0.5-30kV）

5.热分析仪：TGA-600型（温度范围25-1600°C，灵敏度0.1μg）

6.电阻率测试仪：ERT-450型（电阻范围0.1μΩ·m-100MΩ·m，精度±0.2%）

7.布氏硬度计：BH-100型（载荷范围10-3000kg，压头直径2.5mm）

8.粒度分析仪：PSA-700型（测量范围0.1-1000μm，重复性±1%）

9.紫外可见分光光度计：UVS-300型（波长精度±0.1nm，光谱带宽1nm）

10.离子色谱仪：IC-250型（检测限0.01ppm，流速0.1-5mL/min）

11.拉曼光谱仪：RS-800型（激光波长532nm，分辨率1cm⁻¹）

12.热导率测定仪：TC-150型（温度范围-100-1000°C，精度±1%）

13.气体分析仪：GA-400型（检测限0.1ppm，响应时间<10s）

14.表面粗糙度仪：SR-200型（测量范围Ra0.05-10μm，精度±0.02μm）

15.密度计：DEN-300型（测量精度0.001g/cm³，最大载荷1kg）

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"石墨块杂质元素分析"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。