检测项目

频率响应范围检测：10 mHz-10 MHz，分辨率±0.1%

阻抗模值测量：0.1 Ω-10 MΩ，精度±0.5%

相位角分析：-180°至+180°，误差≤±0.1°

等效电路拟合：误差率≤3%

温度依赖性测试：-40°C至+150°C，温控±0.5°C

检测范围

金属基复合材料（如铝基碳化硅）

高分子介电材料（聚酰亚胺、PTFE）

锂离子电池电极材料（正极/负极片）

电子陶瓷元件（MLCC、压电陶瓷）

半导体器件（IGBT、MOSFET封装结构）

检测方法

电化学阻抗谱法（EIS）：ASTM G106, ISO 16797

交流阻抗分析法：GB/T 17626.2-2018

多频率扫描法：IEC 62391-1

时域反射法（TDR）：GB/T 21437.2-2008

宽频介电谱法：ASTM D150-11

检测设备

Solartron 1260A阻抗分析仪：频率范围10 μHz-32 MHz，支持多通道同步测试

KEYSIGHT E4990A阻抗分析仪：基本精度0.045%，内置直流偏置功能

Gamry Reference 3000电化学工作站：支持EIS与DC腐蚀联动分析

Novocontrol Concept 80宽频介电谱仪：温度范围-160°C至+400°C

HIOKI IM3590化学阻抗分析仪：兼容4端子对测量，频率范围0.1 Hz-200 kHz