检测项目

平均差分群时延（Mean DGD）：测量范围0.1ps~50ps，分辨率0.01ps

瞬时差分群时延（Instantaneous DGD）：动态范围±10ps，采样频率≥1kHz

波长相关性测试：扫描范围1520~1620nm，步长0.1nm

温度稳定性测试：温度范围-40℃~+85℃，温控精度±0.5℃

偏振相关损耗（PDL）：测量精度±0.1dB，重复性误差≤0.05dB

检测范围

单模/保偏光纤器件：包括光纤光栅、耦合器、隔离器等

高速光通信模块：100G/400G相干光模块、硅光芯片

光纤陀螺及传感系统：干涉型光纤传感器、分布式传感网络

特种光纤材料：光子晶体光纤、掺稀土光纤、微结构光纤

光学薄膜器件：DWDM滤光片、偏振分束膜、抗反射镀膜

检测方法

国际标准：IEC 60793-1-48（光纤DGD测试）、ASTM D4565-99（光缆组件偏振特性）

国家标准：GB/T 15972.48（光纤试验方法-偏振模色散）、GB/T 18311.22（光器件环境试验）

行业协议：TIA-455-243（偏振相关损耗测量）、ITU-T G.650.2（单模光纤PMD统计方法）

动态扫描法：基于琼斯矩阵本征分析（JME），符合IEC 61290-11-2规范

干涉测量法：采用迈克尔逊干涉仪结构，满足ISO/IEC 11801光纤链路认证要求

检测设备

Luna Technologies OVA 5000：支持0.05ps DGD分辨率，集成波长扫描与温度控制模块

EXFO FTB-5500偏振分析仪：覆盖1280~1650nm波段，PDL测量重复性达0.02dB

Yokogawa AQ1200系列：多通道DGD实时监测，最大采样率10kHz

Keysight N7788B光学组件分析仪：支持SOP扫描法与干涉法双模式检测

国产AV6381光纤偏振分析系统：符合GB/T 15972.48标准，温度循环测试范围-40℃~+85℃