光学图解纠正检测

检测项目

透光率：波长范围380-780nm，精度±0.3%

折射率：测量波长589.3nm，重复性±0.0001

色散系数：阿贝数测量范围20-90，分辨率0.1

光学畸变：畸变率≤0.1%，空间分辨率5μm

膜层厚度：测量范围50nm-50μm，误差±1.5nm

检测范围

光学玻璃：包括BK7、熔融石英等基材

聚合物薄膜：PET、PC等透明/半透明材料

显示屏组件：LCD面板、OLED发光层

光学镀膜：AR膜、IR截止膜等功能涂层

半导体光电器件：CMOS传感器、滤光片阵列

检测方法

ASTM E903-20：材料透光率光谱分析法

ISO 13666:2019：光学元件折射率测量规程

GB/T 26397-2011：光学薄膜厚度测试方法

ISO 10110-5:2017：光学元件表面缺陷评估

GB/T 7962.5-2010：色差测量分光光度法

检测设备

Zygo Verifire MST：激光干涉仪，波长632.8nm，面形精度λ/100

Shimadzu UV-3600i Plus：双光束分光光度计，带宽0.1nm

Filmetrics F20：薄膜分析系统，厚度分辨率0.1nm

BYK-mac i：多角度分光测色仪，孔径0.5-10mm可调

Trioptics OptiCentric：双光路折射率仪，测量速度＜3s/点

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"光学图解纠正检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。