检测项目
透光率：波长范围380-780nm，精度±0.3%
折射率：测量波长589.3nm，重复性±0.0001
色散系数：阿贝数测量范围20-90，分辨率0.1
光学畸变：畸变率≤0.1%，空间分辨率5μm
膜层厚度：测量范围50nm-50μm，误差±1.5nm
检测范围
光学玻璃：包括BK7、熔融石英等基材
聚合物薄膜：PET、PC等透明/半透明材料
显示屏组件：LCD面板、OLED发光层
光学镀膜：AR膜、IR截止膜等功能涂层
半导体光电器件：CMOS传感器、滤光片阵列
检测方法
ASTM E903-20：材料透光率光谱分析法
ISO 13666:2019：光学元件折射率测量规程
GB/T 26397-2011：光学薄膜厚度测试方法
ISO 10110-5:2017：光学元件表面缺陷评估
GB/T 7962.5-2010：色差测量分光光度法
检测设备
Zygo Verifire MST：激光干涉仪，波长632.8nm，面形精度λ/100
Shimadzu UV-3600i Plus：双光束分光光度计，带宽0.1nm
Filmetrics F20：薄膜分析系统，厚度分辨率0.1nm
BYK-mac i：多角度分光测色仪，孔径0.5-10mm可调
Trioptics OptiCentric：双光路折射率仪，测量速度＜3s/点