紧套带状光纤结构检测

检测项目

外径尺寸偏差检测：误差范围≤±0.02mm

紧套层厚度均匀性：波动值≤15μm

抗拉强度测试：最小断裂负荷≥150N

光纤几何参数检测：芯径公差±0.5μm，包层直径125±1μm

温度循环性能：-40℃~+70℃循环20次，衰减变化≤0.2dB/km

检测范围

单模紧套带状光纤（SM-Tight Buffer Ribbon）

多模OM3/OM4/OM5等级紧套光纤

聚氯乙烯（PVC）护套型带状光缆

低烟无卤（LSZH）阻燃护套产品

高密度数据中心用微束管结构光纤

检测方法

GB/T 7424.2-2008 光缆环境性能试验方法

ASTM D3039-08 聚合物基复合材料拉伸性能标准

ISO/IEC 60793-1-34 光纤几何参数测量方法

TIA-455-78-B 光纤温度循环试验规范

GB/T 15972.30-2008 光纤传输特性测量方法

检测设备

Olympus BX53M工业显微镜：实现5000倍放大下的涂层缺陷检测

Instron 5967双立柱拉力试验机：最大负荷10kN，精度±0.5%

EXFO FTB-500光时域反射仪：动态范围45dB，分辨率0.8m

Espec STZ-120温控箱：温度范围-70℃~+180℃，变温速率15℃/min

Mitutoyo LSM-902S激光测径仪：测量精度±0.5μm，采样频率1kHz

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"紧套带状光纤结构检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。