检测项目
稀土氧化物含量测定：La₂O₃、CeO₂、Pr₆O₁₁、Nd₂O₃等，精度±0.01%
晶体结构分析：XRD半定量分析，晶胞参数误差≤0.002Å
杂质元素检测：Fe、Al、Si、Th、U等，检测限≤10ppm
物理性能测试：密度（4.8-5.2g/cm³）、硬度（莫氏5.0-6.5）
化学稳定性测试：酸溶失率（1M HCl，25℃，24h≤3%）
检测范围
稀土矿选冶中间产物：原矿、精矿、焙烧料
工业催化剂材料：石油裂化催化剂、汽车尾气净化载体
特种陶瓷原料：介电陶瓷、热障涂层材料
核工业屏蔽材料：中子吸收体组分
废料回收物：电子废弃物提纯产物
检测方法
X射线荧光光谱法（XRF）：ISO 12677:2011，GB/T 14506.28-2010
电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）：ASTM E1479-16，GB/T 20975.25-2020
X射线衍射分析（XRD）：ISO 20203:2005，GB/T 23413-2009
扫描电子显微镜-能谱联用（SEM-EDS）：ASTM E1508-12，GB/T 17359-2012
密度梯度柱法：ASTM B923-20，GB/T 5163-2006
检测设备
波长色散X射线荧光光谱仪：Rigaku ZSX Primus III，元素定量分析
多晶X射线衍射仪：Bruker D8 Advance，晶体结构解析
全谱直读ICP光谱仪：PerkinElmer Optima 8300，痕量元素检测
场发射扫描电镜：Hitachi SU5000，表面形貌及元素分布分析
精密密度测定仪：Mettler Toledo XS204，密度梯度法测量
显微硬度计：Wilson 432SVD，维氏硬度测试
高温高压反应釜：Parr 4575，化学稳定性试验
全自动电位滴定仪：Metrohm 913 pH Meter，酸溶行为分析