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含氧化物杂质检测

  • 原创官网
  • 2025-03-10 17:12:39
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含氧化物杂质检测概述:含氧化物杂质检测是确保材料性能与安全性的关键环节,涉及金属、半导体、陶瓷等多类材料的成分分析。本文系统阐述氧化物检测的核心项目、适用材料范围、国际/国家标准方法及先进设备配置,重点涵盖XRF、ICP-OES等技术的参数指标,为工业质量控制提供科学依据。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

氧化铝(Al₂O₃)含量检测:检测范围0.001%-15%(XRF法)

二氧化硅(SiO₂)浓度测定:检出限0.1ppm(ICP-OES法)

氧化铁(FeO/Fe₂O₃)形态分析:精度±0.02wt%(化学滴定法)

氧化钙(CaO)总量检测:线性范围0.01-5mg/L(AAS法)

复合氧化物杂质筛查:同时检测15种元素(EDXRF法)

检测范围

金属合金材料:铝合金、钛合金、高温合金等

半导体材料:单晶硅片、GaAs衬底、ITO薄膜

陶瓷材料:氧化锆、氮化硅、压电陶瓷

化工原料:催化剂载体、分子筛、高纯石墨

药品原料:药用辅料、活性药物成分(API)

检测方法

ASTM E1479-99(2020):X射线荧光光谱法定量分析

ISO 21587-3:2007:碱熔融-ICP法测定硅酸盐材料

GB/T 223.5-2021:钢铁及合金酸溶铝测定标准

GB/T 6609.28-2022:氧化铝杂质含量的测定方法

ASTM D6130-18:波长色散X射线荧光法测定润滑油添加剂

检测设备

Thermo Scientific ARL PERFORM'X XRF光谱仪:波长色散型,检测元素范围Be-U

PerkinElmer Optima 8300 ICP-OES:轴向观测系统,检出限达ppb级

Rigaku ZSX Primus IV EDXRF:多层膜光学系统,支持无标样分析

Mettler Toledo T50滴定仪:动态等当点识别技术,分辨率0.1μL

Shimadzu AA-6880原子吸收光谱仪:双背景校正系统,火焰/石墨炉一体化

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与含氧化物杂质检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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