检测项目
元素组成分析（硫/硒/碲含量检测，精度±0.01wt%）
晶体结构表征（X射线衍射晶格常数测定，分辨率0.001Å）
热稳定性测试（TG-DSC同步分析，温度范围RT-1500℃）
电学性能检测（电阻率测量，范围1×10⁻⁶~1×10³ Ω·cm）
表面形貌分析（SEM表面粗糙度Ra≤0.1μm）
检测范围
II-VI族半导体材料（如CdTe、ZnSe）
红外光学镀膜材料（如Ge28Sb12Se60）
热电转换材料（如Bi₂Te₃基合金）
锂硫电池正极复合材料
CIGS薄膜太阳能电池材料
检测方法
ASTM E1086-22 硫族元素化学分析法
ISO 14706:2023 表面硫化物XPS定量标准
GB/T 13305-2021 金属硫化物相结构分析方法
ISO 20289:2018 硫系玻璃热膨胀系数测定
GB/T 18968-2022 半导体材料电阻率测试规范
检测设备
Rigaku ZSX Primus III X射线荧光光谱仪（元素分析）
Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪（晶体结构解析）
NETZSCH STA 449 F5同步热分析仪（TG-DSC联用）
Keithley 4200A-SCS半导体参数测试系统（电学性能）
Zeiss Sigma 500场发射扫描电镜（表面形貌表征）