半导体二极管检测

检测项目

电气特性检测：

• 正向电压降：VF≤0.7V（参照IEC60747-1）
• 反向电流：IR≤1μA（VR=10V）
• 击穿电压：VR≥50V（公差±5%）

热特性检测：

• 热阻：RthJL≤50℃/W（条件Tc=25℃）
• 最大结温：Tjmax≥150℃（参照JESD51）
• 功率耗散：Pdmax≥1W（稳态测试）

动态特性检测：

• 反向恢复时间：trr≤50ns（VR=30V）
• 正向恢复时间：tfr≤10ns（IF=1A）
• 开关损耗：Esw≤50μJ（参照JEDECJESD77）

封装完整性检测：

• 引线拉力：拉力≥5N（参照MIL-STD-883）
• 焊接强度：剪力≥3kgf
• 气密性测试：泄漏率≤1×10⁻⁸Pa·m³/s（氦质谱法）

环境适应性检测：

• 温度循环：-65℃至+150℃（1000次循环）
• 湿度试验：85℃/85%RH（1000小时）
• 振动测试：10g加速度（20-2000Hz）

可靠性测试：

• 寿命加速老化：1000小时@150℃结温
• 失效模式分析：短路/开路阈值（参照IEC60749）
• MTTF计算：≥10⁶小时（Arrhenius模型）

光学特性检测（适用LED）：

• 光通量：Φ≥100lm（参照CIE127）
• 波长偏差：Δλ≤5nm（主波长450-650nm）
• 发光效率：η≥100lm/W

结构分析检测：

• 显微镜检查：芯片裂纹检测（放大1000X）
• X-ray成像：焊接空洞≤10%面积
• 剖面分析：结深偏差±0.1μm

静电敏感性检测：

• ESD耐受：HBM≥2000V（参照ANSI/ESDA/JEDECJS-001）
• CDM耐受：≥500V
• 闩锁效应测试：电流触发阈值≥100mA

噪声特性检测：

• 噪声系数：NF≤5dB（频率1MHz）
• 漏电流噪声：RMS≤10nA
• 闪烁噪声：转角频率≤10Hz

检测范围

1.硅整流二极管：涵盖1N400x系列，重点检测正向电流耐受（IF≥1A）与反向恢复特性。

2.肖特基二极管：适用于高频应用，侧重低VF（≤0.3V）与热稳定性验证。

3.发光二极管(LED)：包括可见光与红外类型，核心检测光输出参数与色坐标偏差。

4.齐纳二极管：针对稳压功能，重点测试击穿电压精度（公差±2%）与温度系数。

5.变容二极管：用于调谐电路，检测电容变化范围（Cj=1-100pF）与Q值。

6.光电二极管：涵盖PIN与APD类型，侧重响应度（A/W）与暗电流检测。

7.快恢复二极管：适用于开关电源，核心验证trr≤100ns与反向恢复电荷。

8.功率二极管：包括模块化器件，重点检测浪涌电流（IFSM≥100A）与热循环耐久性。

9.TVS二极管：用于过压保护，测试箝位电压（Vc≤30V）与响应时间（≤1ns）。

10.激光二极管：涉及通讯应用，核心检测阈值电流与光束发散角。

检测方法

国际标准：

• IEC60747-1半导体器件通用测试方法
• IEC60749-25温度循环试验方法
• JEDECJESD22-A101稳态温湿偏置寿命试验
• MIL-STD-883微电子器件测试方法
• ISO16750-4汽车电子环境试验

国家标准：

• GB/T4589.1半导体器件分立器件测试方法
• GB/T2423.22温度变化试验方法
• GB/T17626.2静电放电抗扰度试验
• GB/T4937半导体器件机械和气候试验方法
• GB/T14048.1低压开关设备测试通则

方法差异说明：GB/T标准等效采用IEC但简化湿度试验周期（如GB/T2423.3采用48小时vsIEC60749的96小时），动态特性测试中GB/T4589规定更低电流分辨率（1nAvsIEC60747的100pA）。

检测设备

1.参数分析仪：Keithley2450型（电流分辨率10fA，电压范围±210V）

2.热阻测试仪：T3Ster系统（温度精度±0.1℃，功率范围0-100W）

3.示波器：TektronixMDO3000型（带宽200MHz，采样率2.5GS/s）

4.半导体特性测试系统：AgilentB1500A（电容测量范围0.1fF-100μF）

5.环境试验箱：ESPECPL-3K型（温度范围-70℃至+180℃，湿度10-98%RH）

6.X射线检测仪：NordsonDageXD7600NT（分辨率1μm，电压160kV）

7.光学测试系统：EverfineHAAS-2000（光谱范围350-1050nm，精度±2%）

8.拉力测试机：Instron5943型（载荷范围0-5kN，精度±0.5%）

9.ESD测试仪：ThermoKeyTekZapMaster（电压范围100V-30kV，波形IEC61000-4-2）

10.振动试验台：Unholtz-DickieUD-812（频率范围5-3000Hz，最大加速度20g）

11.金相显微镜：OlympusBX53M（放大倍数50-1000X）

12.寿命测试系统：Chroma19032（温度控制±1℃，电流偏置0-10A）

13.噪声分析仪：KeysightN9020B（频率范围10Hz-26.5GHz，灵敏度-170dBm）

14.电容测试仪：WayneKerr6430A（测量频率1kHz-1MHz，精度0.1%）

15.光谱辐射计：KonicaMinoltaCS-2000（亮度范围

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"半导体二极管检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。