检测项目

硅含量检测：测定范围40-80%，允许误差±0.5%

钡含量检测：测定范围10-30%，允许误差±0.3%

碳含量检测：测定范围≤0.5%，检测精度0.01%

杂质元素检测：Al≤0.8%、P≤0.04%、S≤0.02%

物理性能检测：粒度分布（0.1-10mm）、密度（2.5-3.5g/cm³）

检测范围

硅钡合金：BaSi₂、BaSi₃等金属间化合物

冶金添加剂：球化剂、孕育剂等铸造辅料

耐火材料：硅钡质耐火砖、浇注料

电子材料：半导体用硅钡靶材

回收料：废硅钡合金二次提纯物料

检测方法

硅含量测定：GB/T 5686.1-2022 硅钡合金化学分析方法

钡含量测定：ASTM E3061-17 电感耦合等离子体发射光谱法

碳硫分析：ISO 15350:2000 高频燃烧红外吸收法

杂质检测：GB/T 4336-2016 火花放电原子发射光谱法

粒度分析：GB/T 1480-2012 金属粉末粒度测定法

检测设备

ICP-OES光谱仪：Thermo Scientific iCAP 7400，检测限0.001ppm

碳硫分析仪：LECO CS844，测量范围0.001%-6.000%

X射线荧光光谱仪：Bruker S8 TIGER，精度±0.01%

激光粒度仪：Malvern Mastersizer 3000，测量范围0.01-3500μm

全自动密度仪：Micromeritics AccuPyc II 1340，分辨率0.0001g/cm³