检测项目

重金属残留：铅（≤0.1μg/cm²）、镉（≤0.01μg/cm²）、汞（≤0.02μg/cm²）

有机化合物：多环芳烃（PAHs≤0.2mg/kg）、邻苯二甲酸酯（≤0.1%）

微生物污染：菌落总数（≤100CFU/cm²）、致病菌（不得检出）

颗粒污染物：粒径≥0.5μm颗粒数（≤500个/cm²）

放射性残留：α/β表面污染（≤0.04Bq/cm²）

检测范围

医用植入物及手术器械表面

食品级包装材料内壁

半导体晶圆及电子元件

航空航天结构件涂层

核工业防护装备表面

检测方法

ASTM F3127-16 表面金属污染物XRF筛查法

ISO 8502-3 氯化物污染比色测定法

GB/T 26572-2011 电子电气产品表面污染检测规程

ISO 14698-1 洁净室微生物污染评估标准

GB 14883.4-2016 食品接触材料表面污染物迁移试验

检测设备

Thermo Scientific Niton XL5 XRF分析仪（重金属快速筛查）

Particle Measuring Systems LASAIR III 510（气溶胶粒子计数器）

PerkinElmer NexION 350D ICP-MS（痕量元素分析）

Bruker Contour Elite白光干涉仪（表面形貌分析）

Merck Millipore MicroStar检测系统（微生物膜过滤装置）