检测项目
接触电阻：≤0.5Ω（直流1A负载下）
绝缘强度：≥500V AC（1分钟耐压测试）
温度稳定性：-55℃~+150℃循环后电阻偏差≤±3%
机械寿命：≥50万次插拔（5N压力）
尺寸精度：针尖直径公差±0.002mm（Φ0.1mm基准）
检测范围
金属探棒：钨铜合金/铍铜探针，用于IC芯片测试
陶瓷涂层探棒：Al₂O₃镀层探针，抗电弧烧蚀检测
高温合金探棒：镍基合金材料，发动机ECU测试验证
复合探棒：碳纤维-铜复合结构，高密度PCB板检测
微型化探棒：≤0.05mm针径，晶圆级测试系统适配性检测
检测方法
接触电阻：ASTM B539四线法，GB/T 5095.2-2021
绝缘强度：IEC 60664-1耐压测试规程，GB/T 16927.1
温漂测试：ISO 16750-4温度循环方案，GB/T 2423.22
寿命测试：ASTM F1578机械耐久性试验，JIS C5402
尺寸测量：ISO 1101几何公差规范，GB/T 1958-2017
检测设备
Agilent 34461A数字万用表：6½位精度电阻测量
Chroma 19032耐压测试仪：0-5kV AC/DC绝缘检测
Espec TSB-52温控箱：-70℃~+180℃循环系统
Keyence VHX-7000显微系统：5000倍光学尺寸分析
Schunk SLS-5000寿命试验机：多轴力控插拔模拟