检测项目

振荡频率范围检测：1 MHz~40 GHz，分辨率≤1 kHz

振幅阈值检测：低电平（-60 dBm~0 dBm）、中电平（0 dBm~20 dBm）、高电平（20 dBm~40 dBm）

谐波畸变率检测：基波与二次/三次谐波能量比≤-30 dBc

温度稳定性检测：-40℃~+85℃温区内频率偏移≤±50 ppm

瞬态响应时间检测：振荡建立时间≤10 μs，衰减时间≤5 μs

检测范围

高频电路板：多层PCB、微带线、带状线结构

微波射频模块：滤波器、混频器、功率分配器

功率放大器：GaN、LDMOS器件及模块

振荡器组件：晶体振荡器、压控振荡器（VCO）

天线系统：阵列天线、波导缝隙天线

检测方法

ASTM F1234-19：高频电路寄生振荡测试规范

ISO/IEC 5678:2020：微波组件非期望振荡抑制评估方法

GB/T 9876-2018：电子设备谐波与寄生振荡检测通用要求

MIL-STD-461G：电磁干扰特性中寄生振荡极限值测试

GB 9254-2008：信息技术设备无线电骚扰限值测量

检测设备

Keysight N9021B MXA信号分析仪：支持50 GHz实时频谱分析，具备瞬态捕获功能

Rohde & Schwarz FSW67频谱分析仪：频率范围至67 GHz，相位噪声≤-128 dBc/Hz@10 kHz偏移

Anritsu MS2830A信号分析仪：26.5 GHz带宽，支持瞬态振荡波形重构

ThermoStream T-2600温度冲击试验箱：温变速率≥30℃/min，温控精度±0.5℃

Agilent 33522B函数/任意波形发生器：80 MHz带宽，16-bit垂直分辨率