检测项目

绝缘电阻测试：测量范围10^6~10^16Ω，直流电压500V±5%

耐压强度检测：交流电压0~50kV可调，击穿判定阈值≥5mA

介质损耗角正切值（tanδ）：频率50Hz~1MHz，精度±0.1%

表面/体积电阻率：测试电压100V~1000V，环境温度23±2℃

温升特性测试：温度范围-40℃~300℃，温变速率5℃/min

检测范围

半导体材料：硅晶圆、砷化镓基板等

高分子绝缘材料：环氧树脂、聚酰亚胺薄膜

金属导电材料：铜合金触点、银浆导电层

电子陶瓷材料：氧化铝基板、钛酸钡介电体

复合材料：碳纤维增强聚合物、金属化塑料

检测方法

ASTM D257-14：绝缘电阻与导电率标准测试

GB/T 1408.1-2016：固体绝缘材料工频击穿强度

IEC 60512-1-2018：电子元件温升试验通用要求

ISO 1853-2018：导电橡胶体积电阻率测定

GB/T 1692-2008：硫化橡胶绝缘电阻试验

检测设备

Keysight B2987A高阻计：10aA~10pA电流分辨率，支持极化指数测试

Chroma 19032耐压测试仪：50kV/100mA输出，ARC侦测功能

Agilent 4294A阻抗分析仪：40Hz~110MHz频段，四端对测量接口

ESPEC PCT-320温控箱：-70℃~180℃循环，湿度控制±2%RH

HIOKI IM3590化学阻抗仪：同时测量|Z|和θ，支持Cole-Cole图谱分析