检测项目
波长精度检测：偏差范围±0.5nm（405-1550nm波段）
输出功率稳定性：连续工作8小时波动≤±2%
光束质量因子M²值：M²≤1.3（635nm基准波长）
散热性能测试：温升≤15℃/kW（持续负载工况）
机械振动耐受性：20-2000Hz扫频振动，振幅2.5g
环境适应性测试：工作温度-20℃~+60℃，湿度95%RH
检测范围
半导体激光头（GaAs/GaN基材料）
光纤耦合激光头（石英光纤组件）
CO₂气体激光管（ZnSe透镜系统）
固体激光器Nd:YAG晶体组件
紫外激光头（355nm/266nm波长段）
高功率激光阵列（kW级水冷模块）
检测方法
ISO 11145:2018 激光器参数测量规范
ISO 11554:2017 激光功率能量测试方法
ASTM E2758-18 激光束质量表征标准
GB/T 15175-2012 固体激光器测试方法
GB/T 31359-2015 半导体激光器检验规范
IEC 60825-1:2014 激光产品安全等级评定
检测设备
YOKOGAWA AQ6376光谱分析仪：波长分辨率0.02nm
Ophir Vega激光功率计：量程10mW-10kW
Primes BeamMaster光斑分析系统：测量范围0.5-25mm
FLIR A655sc红外热像仪：热灵敏度0.03℃
LDS V955振动试验台：最大加速度980m/s²
ESPEC PL-3K环境试验箱：温控精度±0.5℃