检测项目
主量元素分析：S、Fe、Cu、Zn、Pb等含量测定（范围：0.01%-50%）
微量元素检测：As、Cd、Hg、Se等痕量元素分析（检出限：0.1-10 ppm）
晶体结构表征：晶胞参数、空间群及衍射峰匹配度（精度：±0.001 Å）
热稳定性测试：TG-DSC同步分析（温度范围：25-1200℃，升温速率：5-20℃/min）
表面形貌观察：SEM-EDS微区成分分析（分辨率：1-5 nm，加速电压：5-30 kV）
检测范围
金属矿石：黄铁矿（FeS2）、方铅矿（PbS）、闪锌矿（ZnS）等
工业材料：硫化橡胶、硫系玻璃、硫化物催化剂
环境样品：土壤/沉积物中硫化物污染检测
矿物加工产品：浮选精矿、冶金中间体
地质研究标本：火山岩、变质岩中硫化物包裹体
检测方法
X射线荧光光谱法（XRF）：ASTM D4326，GB/T 14506.14-2010
电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）：ISO 17294-2，GB/T 14506.30-2020
X射线衍射分析（XRD）：ISO 20203，GB/T 14326-2022
热重-差示扫描量热法（TG-DSC）：ASTM E1131，GB/T 27761-2011
扫描电子显微镜-能谱联用（SEM-EDS）：ISO 22493，GB/T 17359-2023
检测设备
X射线荧光光谱仪：Bruker S8 TIGER，波长色散型，检测元素范围：Be-U
ICP-MS质谱仪：Thermo Scientific iCAP RQ，检测限：ppt级，质量数范围：4-270 amu
多晶X射线衍射仪：Rigaku SmartLab，角度精度：±0.0001°，2θ范围：3-160°
同步热分析仪：NETZSCH STA 449 F5，TG分辨率：0.1 μg，DSC灵敏度：1 μW
场发射扫描电镜：Hitachi SU5000，分辨率：1.0 nm（15 kV），EDS探测器：Bruker XFlash 6|100