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xanes光谱检测

  • 原创官网
  • 2025-03-15 14:17:06
  • 关键字:北检研究院,xanes光谱检测

相关:

概述:XANES(X射线吸收近边结构)光谱是一种用于分析材料局部原子结构和电子状态的高精度检测技术。其核心在于测量元素特定吸收边附近的精细特征,可获取价态、配位环境、化学键合等信息。本文重点阐述XANES在材料科学中的关键检测项目、适用对象、标准化方法及核心设备配置。

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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

元素价态分析:能量范围±50 eV(相对于吸收边),精度±0.1 eV

配位结构解析:探测半径≤5 Å范围,分辨率<0.5 eV

化学键合类型判定:边前峰强度测量误差<3%

局域结构对称性表征:白线强度重复性RSD<1.5%

元素分布成像:空间分辨率10 μm(微束模式)

检测范围

催化剂材料:贵金属(Pt/Pd/Rh)负载型催化剂表面状态分析

锂离子电池材料:正极材料过渡金属(LiCoO₂/NCM)氧化态监测

环境污染物:土壤/水体中Cr(VI)/As(III)等重金属形态鉴别

半导体材料:掺杂元素(B/As)的局域电子结构表征

生物样品:金属蛋白中Fe/Cu/Zn的配位环境解析

检测方法

ASTM E1621-13:软X射线吸收谱的标准化采集流程

ISO 16700:2022:微束X射线分析的技术要求

GB/T 40109-2021:同步辐射X射线吸收谱测量通则

GB/T 35033-2018:纳米材料表面化学态分析方法

IUPAC技术报告:XAFS数据采集与处理规范(2020版)

检测设备

同步辐射光源:上海光源BL08U线站(能量范围4-15 keV)

实验室X射线源:Thermo Fisher ESCALAB Xi+ (单色化Al Kα源)

荧光探测器:Ketek SDD硅漂移探测器(能量分辨率<130 eV)

样品环境系统:Anton Paar XAFS反应池(-170~600℃可控)

定位系统:PI Hexapod六轴样品台(定位精度±1 μm)

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

以上是与"xanes光谱检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

    材料检测服务

    专业分析各类金属、非金属材料的成分、结构与性能,提供全面检测报告和解决方案。包括金属材料力学性能测试、高分子材料老化试验、复合材料界面分析等。

    化工产品分析

    精准检测各类化工产品的成分、纯度及物理化学性质,确保产品质量符合国家标准。服务涵盖有机溶剂分析、催化剂表征、高分子材料分子量测定等。

    环境检测服务

    提供土壤、水质、气体等环境检测服务,助力环境保护与污染治理,共建绿色家园。包括VOCs检测、重金属污染分析、水质生物毒性测试等。

    科研检测认证

    凭借专业团队和先进设备,致力于为企业研发、质量控制及市场准入提供精准可靠的技术支撑,助力品质提升与合规发展。