检测项目

1.基础粒度分析：体积平均粒径，数量平均粒径，表面积平均粒径，粒度分布曲线。

2.分布宽度与集中度：跨度，分布宽度指数，均匀性系数。

3.特征粒径值：中值粒径，众数粒径，百分位数粒径。

4.比表面积相关：比表面积计算，粒径与比表面积关联分析。

5.颗粒形貌辅助分析：圆形度分析，长径比分布。

6.悬浮体系分析：沉降稳定性评估，粒度随时间变化趋势。

7.团聚与分散状态评估：原始态粒度，分散后极限粒度，团聚指数。

8.特定区间颗粒含量：细粉含量，粗颗粒含量，特定筛分粒径区间占比。

9.多峰分布解析：主峰识别，次峰识别与定量，多组分混合体系解析。

10.过程监控测试：研磨工艺效率评估，分级设备分离效果验证。

11.孔隙率分析：基于粒度数据的堆积密度与孔隙率估算。

检测范围

二氧化硅、碳酸钙、高岭土、滑石粉、钛白粉、氧化铝、氧化锌、碳化硅、氮化硼、陶瓷粉体、金属粉末、催化剂载体、高分子微球、农药可湿性粉剂、染料颜料、锂电池正负极材料、石墨烯粉体、水泥、矿粉

检测设备

1.激光衍射粒度分析仪：基于米氏散射理论，测量分散在液体或气体中颗粒的衍射光强分布，反演计算出颗粒群的体积粒径分布；具备测量范围宽、速度快、重复性好的特点。

2.动态光散射仪：通过分析颗粒在溶液中的布朗运动所引起的散射光波动，测定纳米及亚微米级颗粒的流体力学直径与分布；适用于胶体、蛋白质等样品的分析。

3.图像法颗粒分析系统：通过光学显微镜或电子显微镜获取颗粒图像，经软件处理统计成千上万个颗粒的投影面积直径、长度、宽度等形貌参数；可直接观察颗粒形态。

4.沉降式粒度分析仪：依据斯托克斯定律，测量颗粒在重力或离心力场中的沉降速度，从而计算等效沉降直径及其分布；对高密度、大颗粒材料分析具有优势。

5.库尔特计数器：利用电阻法原理，颗粒通过微孔时引起电阻变化，其脉冲幅度与颗粒体积成正比，从而测量单个颗粒的体积并统计数量分布；结果精确，适合标准物质标定。

6.空气动力粒径谱仪：测量颗粒在气流中的空气动力学直径，常用于气溶胶、吸入粉雾剂等与空气动力学行为相关的颗粒表征。

7. X射线重力沉降仪：结合沉降原理与X射线吸收技术，实时监测沉降过程中悬浮液浓度的变化，计算颗粒的重量累积分布，尤其适用于高浓度浆料的在线或离线分析。

8.超声衰减粒度分析仪：通过测量超声波在颗粒悬浮液中传播时的衰减谱，反演计算出颗粒的粒径分布；适用于高浓度不透明浆料的原位分析。

9.筛分分析仪：通过机械振动或气流喷吹，使样品经过一系列标准筛网，根据各筛网上残留的样品重量计算粒度分布；是传统且直观的粒度分析方法。

10.静态图像法粒度粒形分析仪：通过干法或湿法分散样品，在稳定状态下快速拍摄大量颗粒图像，并同步分析其粒度与多种形态参数，实现形貌与粒度的综合统计。