


1.基础粒度分析:体积平均粒径,数量平均粒径,表面积平均粒径,粒度分布曲线。
2.分布宽度与集中度:跨度,分布宽度指数,均匀性系数。
3.特征粒径值:中值粒径,众数粒径,百分位数粒径。
4.比表面积相关:比表面积计算,粒径与比表面积关联分析。
5.颗粒形貌辅助分析:圆形度分析,长径比分布。
6.悬浮体系分析:沉降稳定性评估,粒度随时间变化趋势。
7.团聚与分散状态评估:原始态粒度,分散后极限粒度,团聚指数。
8.特定区间颗粒含量:细粉含量,粗颗粒含量,特定筛分粒径区间占比。
9.多峰分布解析:主峰识别,次峰识别与定量,多组分混合体系解析。
10.过程监控测试:研磨工艺效率评估,分级设备分离效果验证。
11.孔隙率分析:基于粒度数据的堆积密度与孔隙率估算。
二氧化硅、碳酸钙、高岭土、滑石粉、钛白粉、氧化铝、氧化锌、碳化硅、氮化硼、陶瓷粉体、金属粉末、催化剂载体、高分子微球、农药可湿性粉剂、染料颜料、锂电池正负极材料、石墨烯粉体、水泥、矿粉
1.激光衍射粒度分析仪:基于米氏散射理论,测量分散在液体或气体中颗粒的衍射光强分布,反演计算出颗粒群的体积粒径分布;具备测量范围宽、速度快、重复性好的特点。
2.动态光散射仪:通过分析颗粒在溶液中的布朗运动所引起的散射光波动,测定纳米及亚微米级颗粒的流体力学直径与分布;适用于胶体、蛋白质等样品的分析。
3.图像法颗粒分析系统:通过光学显微镜或电子显微镜获取颗粒图像,经软件处理统计成千上万个颗粒的投影面积直径、长度、宽度等形貌参数;可直接观察颗粒形态。
4.沉降式粒度分析仪:依据斯托克斯定律,测量颗粒在重力或离心力场中的沉降速度,从而计算等效沉降直径及其分布;对高密度、大颗粒材料分析具有优势。
5.库尔特计数器:利用电阻法原理,颗粒通过微孔时引起电阻变化,其脉冲幅度与颗粒体积成正比,从而测量单个颗粒的体积并统计数量分布;结果精确,适合标准物质标定。
6.空气动力粒径谱仪:测量颗粒在气流中的空气动力学直径,常用于气溶胶、吸入粉雾剂等与空气动力学行为相关的颗粒表征。
7. X射线重力沉降仪:结合沉降原理与X射线吸收技术,实时监测沉降过程中悬浮液浓度的变化,计算颗粒的重量累积分布,尤其适用于高浓度浆料的在线或离线分析。
8.超声衰减粒度分析仪:通过测量超声波在颗粒悬浮液中传播时的衰减谱,反演计算出颗粒的粒径分布;适用于高浓度不透明浆料的原位分析。
9.筛分分析仪:通过机械振动或气流喷吹,使样品经过一系列标准筛网,根据各筛网上残留的样品重量计算粒度分布;是传统且直观的粒度分析方法。
10.静态图像法粒度粒形分析仪:通过干法或湿法分散样品,在稳定状态下快速拍摄大量颗粒图像,并同步分析其粒度与多种形态参数,实现形貌与粒度的综合统计。
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"粒径分布测试"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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