检测项目

1.工作温度范围测试：高温工作测试、低温工作测试、额定温度下功能验证。

2.高低温存储测试：高温存储试验、低温存储试验、温度存储后性能恢复测试。

3.温度循环测试：指定温变速率下的循环测试、极端高低温转换测试、循环次数考核。

4.热冲击测试：两槽式液体热冲击、气体热冲击、快速温变耐受性测试。

5.温度系数测试：电阻温度系数测量、电压温度系数测量、频率温度系数测量。

6.高温老化测试：稳态高温寿命试验、高温加速老化试验、参数漂移监测。

7.低温启动与运行测试：低温条件下启动性能测试、低温满载运行稳定性测试。

8.结温测试：功率器件热阻测量、饱和压降法结温推算、红外法结温测绘。

9.温度梯度测试：组件内部温度分布测量、多点温差监测、热均匀性评估。

10.高低温阈值测试：动作温度点测试、恢复温度点测试、迟滞区间测定。

11.温度与电性能关联测试：不同温度下电流电压特性曲线扫描、开关参数温度依赖性测试。

12.密封器件温度气压综合测试：温度-高度试验、低气压高低温综合试验。

13.温度循环耐久性测试：基于寿命预测的加速温度循环测试、失效机理分析。

14.局部过热测试：热点探测、异常发热定位、热分布成像分析。

15.电池充放电温升测试：不同倍率充放电时温度变化监测、循环温升测试。

检测范围

集成电路、半导体分立器件、晶体振荡器、电阻器、电容器、电感器、继电器、连接器、开关、印刷电路板组件、电源模块、微处理器、存储器芯片、传感器、发光二极管、液晶显示模块、滤波器、天线、电池组、散热模组

检测设备

1.高低温试验箱：提供精确可控的高温、低温及恒温测试环境，用于元器件的工作、存储及老化测试。

2.快速温变试验箱：可实现快速的温度升降变化，模拟严苛的温度冲击环境，用于温度循环及热冲击测试。

3.热流计：测量通过元器件或材料的热流密度，用于分析其导热性能及散热效率。

4.红外热像仪：非接触式测量元器件表面温度分布，可用于定位热点、分析热设计和测量结温。

5.数据采集系统：同步记录测试过程中的多通道温度信号及元器件电参数信号，实现关联分析。

6.热阻测试仪：专用于测量半导体器件结壳热阻等关键热性能参数，评估其散热能力。

7.精密测温仪与热电偶：采用接触式测温法，精确测量元器件特定部位或环境参考点的温度。

8.环境应力筛选试验箱：集成温度循环与振动功能，用于批量产品的可靠性筛选与缺陷激发。

9.非接触式激光测温仪：针对微小或带电敏感部位进行单点温度精确测量，响应速度快。

10.热仿真分析软件：通过建立数字模型，对元器件在不同温度条件下的热行为进行模拟分析与预测。