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光学样板检测

  • 原创官网
  • 2025-03-15 14:39:29
  • 关键字:光学样板测试周期,光学样板测试仪器,光学样板测试方法
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光学样板检测概述:光学样板检测是确保光学元件性能的关键环节,重点涵盖表面形貌、光学参数及材料特性等核心指标。检测需依据国际及国家标准,采用高精度设备对表面粗糙度、面形精度、曲率半径等参数进行量化分析,适用于玻璃、晶体、镀膜材料等多种光学元件质量控制。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

表面粗糙度:Ra值范围0.1-5nm(白光干涉仪测量)

面形精度:PV值λ/20至λ/2(λ=632.8nm)

曲率半径偏差:±0.05%-±0.5%(干涉法测量)

透射率均匀性:波长400-1600nm范围内偏差≤±0.5%

反射率一致性:入射角0-60°时偏差≤±1.2%

局部缺陷尺寸:划痕宽度≤0.5μm,麻点直径≤10μm(100倍显微成像)

检测范围

光学玻璃:熔融石英、BK7、SF11等材质平面/球面样板

晶体材料:氟化钙(CaF2)、硅(Si)、锗(Ge)红外光学元件

光学塑料:PMMA、PC材质的非球面透镜模仁

金属镀膜基板:铝、银反射镜基底面形检测

复合光学材料:微结构阵列模板、衍射光学元件母版

检测方法

ISO 10110-8:2020 光学元件表面粗糙度评价规范

ASTM E903-20 材料太阳吸收率测试标准(透射/反射率测量)

GB/T 2831-2022 光学零件面形偏差检验方法

ISO 14997:2018 光学表面缺陷定量测试方法

GB/T 10988-2023 光学系统曲率半径测量规程

ISO 12123-2019 光学材料应力双折射测试标准

检测设备

Zygo Verifire™ HD激光干涉仪:波长632.8nm,面形精度分辨率λ/1000

Taylor Hobson PGI 840轮廓仪:垂直分辨率0.1nm,水平分辨率1μm

Bruker ContourGT-X3白光干涉仪:最大扫描范围10mm×10mm×2mm

Shimadzu UV-3600i Plus分光光度计:波长范围185-3300nm

Olympus MX63金相显微镜:最大放大倍数1500X,景深扩展成像功能

Trioptics OptiCentric®双中心测量仪:曲率半径测量范围±5mm至∞

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与光学样板检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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