艾里环检测

检测项目

光学均匀性偏差：≤0.5λ/cm（λ=632.8nm）

应力双折射值：≤2nm/cm

表面曲率半径误差：±0.05%

面形精度偏差：PV值≤λ/10

局部缺陷密度：≤3个/cm²（缺陷尺寸≥0.1mm）

检测范围

光学玻璃基板（K9、熔融石英等）

晶体材料（LiNbO₃、CaF₂等）

聚合物薄膜（PET、PC光学膜）

金属镀膜元件（Al/Ag反射镜）

陶瓷基板（Al₂O₃、SiC）

检测方法

ASTM F218-19：光学材料应力双折射测试

ISO 10110-5:2015：光学元件表面缺陷评估

GB/T 7962.1-2021：无色光学玻璃测试方法

ISO 14997:2018：光学表面缺陷检测规范

GB/T 2831-2009：光学零件面形偏差检验方法

检测设备

Zygo Verifire™ MST激光干涉仪：波长632.8nm，分辨率0.1nm

Trioptics OptiCentric®双光路测量系统：曲率半径测量精度±0.01mm

Hinds Instruments PEM-100光弹调制器：应力测量灵敏度0.1nm/cm

Mitutoyo SURFTEST SJ-410轮廓仪：Z轴分辨率1nm

Olympus LEXT OLS5000激光显微镜：横向分辨率0.12μm

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"艾里环检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。