检测项目

辐照剂量分布偏差率（±5%-±15%）

表面与内部吸收差异（Δ≤8%）

热效应梯度变化（温度差≤25℃）

能量衰减系数波动（±0.03/cm）

材料结构形变阈值（应变值≥0.5%）

检测范围

高分子材料：聚乙烯薄膜、聚酰亚胺基板

金属合金：铝合金板材、钛合金结构件

电子元件：半导体晶圆、PCB电路板

光学涂层：抗反射镀膜、红外滤光片

生物医疗材料：人工关节聚乙烯衬垫、放射治疗准直器

检测方法

ASTM E668-2020：热释光剂量计法测定吸收剂量

ISO/ASTM 51608-2018：X射线辐照场均匀性验证规程

GB/T 16585-1996：高分子材料γ射线辐照试验方法

IEC 60544-4:2021：电气绝缘材料辐照老化评估

GB 10252-2009：钴源辐照装置剂量分布测量规范

检测设备

Thermo Scientific RadPro TLD-3500型热释光剂量计系统（测量范围0.1Gy-10kGy）

Fluke Ti450红外热像仪（温度分辨率0.05℃，空间分辨率320×240）

PTW UNIDOS E直线加速器剂量仪（能量响应范围75kV-25MV）

Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪（Cu靶Kα辐射源）

Instron 5985万能材料试验机（载荷精度±0.5%，应变测量分辨率1μm）