检测项目
纯度测定：≥99.5%（质量分数）
溴含量分析：34.2%-35.8%（理论值34.8%）
钯含量测定：44.5%-45.5%（理论值45.0%）
杂质元素限量：Fe≤50ppm, Cl≤100ppm, Ni≤30ppm
物理性质测试：密度3.24-3.28g/cm³（25℃），熔点≥220℃
检测范围
均相催化剂用二溴化钯粉末
电子元器件镀层材料
C-C偶联反应试剂
医药中间体合成原料
特种玻璃着色剂
检测方法
ICP-OES法（ASTM E1479-16）测定金属杂质含量
X射线荧光光谱法（ISO 17034:2016）进行元素比例分析
电位滴定法（GB/T 23774-2009）测定卤素含量
热重-差示扫描量热法（GB/T 19466.2-2004）测试热稳定性
X射线衍射法（JIS K 0131-1996）鉴定晶体结构
检测设备
Thermo Scientific iCAP PRO X系列ICP-OES：多元素同步检测（检出限0.01ppm）
Rigaku ZSX Primus IV XRF光谱仪：无损元素定量分析（精度±0.05%）
Metrohm 905 Titrando自动滴定仪：电位滴定精度±0.1μL
NETZSCH STA 449 F5同步热分析仪：TG-DSC联用（温度范围RT-1500℃）
Bruker D8 ADVANCE XRD衍射仪：2θ角范围5°-140°（分辨率<0.02°）