检测项目
标称容量验证：测量范围1pF~10000μF，允许偏差±0.5%~±20%
额定电压测试：直流耐压50V~10kV，漏电流≤1μA
温度系数分析：-55°C~+125°C温箱内容量变化率≤±15%
损耗角正切值（tanδ）：频率1kHz时≤0.002~0.2
绝缘电阻测定：DC500V下≥100GΩ·cm
检测范围
陶瓷电容器：MLCC、高压瓷介电容器
电解电容器：铝电解电容、固态聚合物电容
薄膜电容器：聚酯膜、聚丙烯膜电容
钽电容器：液体/固体钽电解电容
超级电容器：双电层储能器件
检测方法
容量测试：IEC 60384-1/GB/T 2693规定的电桥法
耐压试验：ASTM D149/GB/T 1408.1阶梯升压法
温度特性分析：IEC 60068-2-14/GB/T 2423.22快速温变法
损耗角正切测量：ASTM D150/GB/T 6346.14矢量网络分析法
绝缘电阻测试：ISO 1853/GB/T 1410三电极系统法
检测设备
LCR测试仪（Keysight E4980AL）：0.01%精度测量L/C/R参数
耐压测试仪（Chroma 19032）：10kV/20mA直流耐压系统
高低温试验箱（Espec SH-261）：-70°C~+150°C温控精度±0.5°C
介质损耗仪（Agilent 4294A）：频率40Hz~110MHz自动扫描
绝缘电阻计（HIOKI IR4056-20）：10^3~10^16Ω量程范围