检测项目

标称容量验证：测量范围1pF~10000μF，允许偏差±0.5%~±20%

额定电压测试：直流耐压50V~10kV，漏电流≤1μA

温度系数分析：-55°C~+125°C温箱内容量变化率≤±15%

损耗角正切值（tanδ）：频率1kHz时≤0.002~0.2

绝缘电阻测定：DC500V下≥100GΩ·cm

检测范围

陶瓷电容器：MLCC、高压瓷介电容器

电解电容器：铝电解电容、固态聚合物电容

薄膜电容器：聚酯膜、聚丙烯膜电容

钽电容器：液体/固体钽电解电容

超级电容器：双电层储能器件

检测方法

容量测试：IEC 60384-1/GB/T 2693规定的电桥法

耐压试验：ASTM D149/GB/T 1408.1阶梯升压法

温度特性分析：IEC 60068-2-14/GB/T 2423.22快速温变法

损耗角正切测量：ASTM D150/GB/T 6346.14矢量网络分析法

绝缘电阻测试：ISO 1853/GB/T 1410三电极系统法

检测设备

LCR测试仪（Keysight E4980AL）：0.01%精度测量L/C/R参数

耐压测试仪（Chroma 19032）：10kV/20mA直流耐压系统

高低温试验箱（Espec SH-261）：-70°C~+150°C温控精度±0.5°C

介质损耗仪（Agilent 4294A）：频率40Hz~110MHz自动扫描

绝缘电阻计（HIOKI IR4056-20）：10^3~10^16Ω量程范围