电子能量损失能谱学检测

电子能量损失能谱学(EELS)是一种基于透射电子显微镜的高精度分析技术,通过测量入射电子与样品相互作用后的能量损失分布,实现材料微区成分、化学态及电子结构的表征。核心检测要点包括能量分辨率校准、低噪声信号采集、谱峰解卷积分析以及样品厚度控制。该技术适用于纳米材料、半导体器件及催化剂的定量化研究。

原创阅读 312025-03-17工程师CMACNASISO高新技术企业

检测项目

元素成分分析:能量分辨率0.1-1.0 eV,探测限≤0.5 at%

化学态识别:能量偏移量±5 eV精度,配位数解析误差<10%

样品厚度测量:对数强度比法(t/λ≤1),误差范围±5 nm

等离子体激元分析:动量分辨模式(q=0.1-5 Å⁻¹),能量范围15-50 eV

能带结构表征:能量损失近边结构(ELNES)解析度0.3 eV

检测范围

半导体材料:硅基器件、III-V族化合物异质结

纳米材料:碳纳米管、二维材料(石墨烯/MoS₂)

催化剂:负载型金属颗粒(Pt/C, Co-Mo-S)

生物样品:冷冻固定细胞切片、病毒颗粒

金属合金:高熵合金相界面、析出相成分梯度

检测方法

ASTM E1508-20: 微区成分分析的标准化流程

ISO 22309:2023: 定量分析的能谱数据处理规范

GB/T 17359-2022: 微束分析通用技术条件

GB/T 28634-2023: 透射电镜电子能量损失谱分析方法

ISO 21363:2021: 纳米颗粒尺寸分布测定方法

检测设备

TFS Spectra Ultra EELS:Thermo Fisher Scientific生产,配备双色差矫正系统,能量分辨率0.12 eV@60 keV

Gatan Enfinium ER 975:低温冷阱设计,动态范围10⁶:1,支持单色器模式采集

JEOL JEM-ARM300F:原子分辨率STEM-EELS系统,探针电流≥50 pA

Nion HERMES-200:超高能量分辨率(<30 meV)单色仪系统

Bruker QUANTAX EELS:集成能谱成像系统,最大采集速率1000 spectra/s

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

QUALIFICATIONS

旗下实验室 · 资质荣誉

CMA / CNAS / ISO 资质齐全,荣誉证书点击可查看大图

{{ groups[lb.g].items[lb.i].t }}({{ lb.i+1 }} / {{ groups[lb.g].items.length }})

具体资质详情请联系工程师

北京实验室 济南实验室 聊城实验室 深圳实验室

热门检测专题