检测项目

元素组成分析：Cu（15-25%）、Bi（30-45%）、S（18-28%）含量测定

晶体结构表征：晶胞参数（a=0.824nm±0.002，c=1.362nm±0.003）测定

杂质元素检测：As（≤0.5%）、Pb（≤1.2%）、Zn（≤0.8%）限量分析

物理性能测试：密度（6.8-7.2g/cm³）、硬度（3.5-4.0莫氏）检测

热稳定性分析：差示扫描量热（DSC）相变温度（200-300℃）测定

检测范围

原生矿石及选矿产品

冶炼中间产物与合金材料

电子工业废料回收物

地质勘查岩芯样本

高温超导材料前驱体

检测方法

X射线荧光光谱法（XRF）：ASTM E1621、GB/T 16597

X射线衍射分析法（XRD）：ISO 20203、GB/T 23413

电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）：ISO 11885、GB/T 36590

扫描电子显微镜能谱联用（SEM-EDS）：ASTM E1508

热重-差热同步分析（TG-DSC）：ISO 11358、GB/T 27761

检测设备

PANalytical Axios Max X射线荧光光谱仪：元素定量分析

Rigaku SmartLab X射线衍射仪：晶体结构解析

PerkinElmer Avio 550 ICP-OES：痕量元素检测

JEOL JSM-7900F场发射扫描电镜：微观形貌观测

NETZSCH STA 449 F5同步热分析仪：热力学特性测试