检测项目

插入损耗：单模≤0.3dB，多模≤0.5dB（测试波长850/1310/1550nm）

回波损耗：PC型≥40dB，APC型≥60dB

端面几何参数：曲率半径10-25mm，顶点偏移≤50μm

插拔耐久性：≥500次循环后损耗变化≤0.2dB

温度循环测试：-40℃~+75℃循环12次后无机械失效

检测范围

光纤连接器（LC/SC/FC/ST/MTP）

光纤适配器（单模/多模/混合型）

光纤跳线（单工/双工/铠装型）

光模块（QSFP+/SFP28/CFP2）

陶瓷插芯（外径2.5mm/1.25mm，同心度≤1.0μm）

检测方法

插入损耗检测：IEC 61753-1（C级通用要求）

端面干涉检测：IEC 61300-3-35（三维形貌分析）

机械耐久性：GB/T 12507-2018（轴向拉力≥5N）

环境试验：Telcordia GR-326-CORE（湿热85℃/85%RH）

光谱分析：ASTM E691-22（多实验室比对方法）

检测设备

EXFO FTB-1光功率计：波长范围800-1650nm，分辨率0.001dB

Veeco NT9100白光干涉仪：纵向分辨率0.1nm，扫描速度15秒/次

Keysight N7788B偏振控制器：消光比＞30dB，波长精度±5pm

Schmidt UVS-6000插拔寿命测试机：行程精度±0.01mm，速度可调0-60次/分

Espec PL-3KPH温箱：温度变化速率15℃/min，均匀度±0.5℃