检测项目
绝缘电阻测试：DC 5000V下测量值≥10000MΩ
局部放电量检测：1.5U0电压下≤5pC
硅油介质损耗因数：50Hz时tanδ≤0.002
瓷套抗弯强度测试：破坏负荷≥12kN
密封压力试验：0.3MPa维持24小时无渗漏
温度循环试验：-40℃~+70℃循环10次
界面密封性测试：氦质谱检漏率≤1×10-6Pa·m³/s
检测范围
500kV及以上电压等级瓷质套管
改性二甲基硅油绝缘介质
三元乙丙橡胶密封组件
镀银铜质电缆导体
铸铝法兰连接件
检测方法
GB/T 3048.5-2007 绝缘电阻测量
IEC 60270:2015 局部放电测试
ASTM D924-15 介质损耗测试
GB/T 775.3-2006 机械强度试验
ISO 15848-1:2015 密封性能评估
GB/T 2423.22-2012 温度循环试验
IEC 60885-3:2015 界面密封检测
检测设备
HIOKI IR4056高压绝缘电阻测试仪：0-10kV/0.1-10000GΩ
PDCheck 2局部放电检测系统：带宽20-300kHz
Wayne Kerr 6500B精密电桥：0.0001-100μF量程
INSTRON 5985万能试验机：300kN加载能力
LACO SALT-60氦质谱检漏仪：灵敏度1×10-12mbar·L/s
ACS TSC-180温控箱：-70℃~+180℃
FLUKE 6105A耐压测试仪：0-15kV AC/DC