检测项目

绝缘电阻测试：DC 5000V下测量值≥10000MΩ

局部放电量检测：1.5U0电压下≤5pC

硅油介质损耗因数：50Hz时tanδ≤0.002

瓷套抗弯强度测试：破坏负荷≥12kN

密封压力试验：0.3MPa维持24小时无渗漏

温度循环试验：-40℃~+70℃循环10次

界面密封性测试：氦质谱检漏率≤1×10-6Pa·m³/s

检测范围

500kV及以上电压等级瓷质套管

改性二甲基硅油绝缘介质

三元乙丙橡胶密封组件

镀银铜质电缆导体

铸铝法兰连接件

检测方法

GB/T 3048.5-2007 绝缘电阻测量

IEC 60270:2015 局部放电测试

ASTM D924-15 介质损耗测试

GB/T 775.3-2006 机械强度试验

ISO 15848-1:2015 密封性能评估

GB/T 2423.22-2012 温度循环试验

IEC 60885-3:2015 界面密封检测

检测设备

HIOKI IR4056高压绝缘电阻测试仪：0-10kV/0.1-10000GΩ

PDCheck 2局部放电检测系统：带宽20-300kHz

Wayne Kerr 6500B精密电桥：0.0001-100μF量程

INSTRON 5985万能试验机：300kN加载能力

LACO SALT-60氦质谱检漏仪：灵敏度1×10-12mbar·L/s

ACS TSC-180温控箱：-70℃~+180℃

FLUKE 6105A耐压测试仪：0-15kV AC/DC