光学读数范围检测

检测项目

分辨率检测：最小可识别光栅间距≤0.1μm

线性度误差检测：误差范围±0.5%（全量程）

灵敏度阈值检测：最低可测照度0.05 lx

重复性检测：多次测量偏差≤±0.2%

动态范围检测：最大信噪比≥60 dB

检测范围

光学玻璃：包括冕牌玻璃、火石玻璃等透光材料

半导体晶圆：硅、砷化镓等基片表面光学特性

薄膜材料：光学增透膜、反射膜厚度及均匀性

光学涂层：耐候性涂层的透射/反射率衰减

光电传感器：CMOS/CCD器件的量子效率曲线

检测方法

ASTM E903-20：材料透射率光谱分析法

ISO 13696:2002：光学元件散射特性测试

GB/T 26397-2011：光学玻璃均匀性干涉测量法

ISO 10110-5:2015：光学系统像差公差评价

GB/T 13323-2009：光电探测器响应度校准规范

检测设备

Zygo Verifire MST干涉仪：波长632.8nm，面形精度λ/100

Bruker ContourGT-X3轮廓仪：垂直分辨率0.1nm

PerkinElmer Lambda 1050分光光度计：波长范围175-3300nm

Hamamatsu C12132积分球系统：光度测量精度±0.8%

Polytec PSV-500激光测振仪：频响范围0.5Hz-25MHz

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"光学读数范围检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。