检测项目

纯度检测：硫酸铷主含量（≥99.5%）

重金属检测：铅（Pb≤5 ppm）、镉（Cd≤5 ppm）、汞（Hg≤1 ppm）

水分含量：游离水（≤0.2%）、结晶水（理论值±0.5%）

粒度分布：D50（1-10 μm）、D90（≤20 μm）

pH值检测：1%水溶液（5.0-7.0）

检测范围

电子材料：半导体掺杂剂、压电晶体

化工催化剂：有机合成反应催化剂载体

光学玻璃：高折射率玻璃添加剂

医药中间体：放射性药物制备原料

化学试剂：分析纯及以上级别试剂

检测方法

ICP-OES法（ASTM E1479）：重金属元素定量分析

热重分析法（GB/T 4497）：水分及热稳定性检测

X射线衍射法（ISO 15901）：晶体结构验证

激光粒度分析（ISO 13320）：粒径分布测定

电位滴定法（GB/T 9724）：pH值精确测定

检测设备

Agilent 5110 ICP-OES：多元素同步检测，检出限0.01 ppm

Malvern Mastersizer 3000：0.01-3500 μm粒度分析

Mettler Toledo TGA/DSC 3+：0.1 μg级热重分析

Rigaku SmartLab X射线衍射仪：0.0001°角度分辨率

Mettler Toledo SevenExcellence pH计：±0.001 pH精度