检测项目
折射率分布：测试波长1550nm/1310nm下的轴向折射率偏差（±0.0005）
衰减系数：测量范围0.1-10 dB/km，分辨率0.001 dB/km
几何参数：芯径公差±0.5μm，包层不圆度≤1.0%
温度特性：-60℃至+300℃环境下的损耗变化率≤0.05 dB/℃
机械强度：抗拉强度≥5 GPa，弯曲半径≤5mm时的附加损耗≤0.1 dB
检测范围
单晶氟化物光纤（ZrF4-BaF2-LaF3体系）
多晶红外硫系玻璃光纤（As-S/Se基材料）
稀土掺杂磷酸盐晶体光纤（Nd³⁺/Yb³⁺掺杂）
梯度折射率晶体光纤（GRIN透镜级）
微结构光子晶体光纤（空气孔周期≤2μm）
检测方法
ASTM E1965-2019：晶体材料折射率测量标准
ISO 14782:2020：光学纤维几何参数测试规范
GB/T 15972.3-2021：光纤衰减系数测试方法
IEC 60793-1-44:2023：温度循环试验标准
GB/T 9771.5-2020：光纤机械强度测试规程
检测设备
EXFO FTB-500：光时域反射仪（OTDR），动态范围45dB
Yokogawa AQ6370D：光谱分析仪，波长范围600-1700nm
Mitutoyo MF-U1000H：光纤几何参数测量系统，重复精度±0.1μm
Thermo Scientific TFS1500：高低温试验箱（-70℃~+350℃）
Instron 5943：微机控制材料试验机，载荷分辨率0.1N