低硅生铁检测

检测项目

硅含量检测：检测范围0.5%-1.2%，精度要求±0.02%

碳含量检测：测定范围3.8%-4.5%，允许偏差±0.05%

硫磷杂质检测：硫≤0.03%，磷≤0.05%，分辨率0.001%

锰含量检测：标准范围0.2%-0.8%，误差限±0.01%

金相组织分析：石墨形态、珠光体占比（≥95%）、渗碳体含量（≤3%）

检测范围

铸造用低硅生铁（牌号Z14-Z26）

炼钢用低硅生铁（牌号L04-L10）

球墨铸铁用低硅生铁（硅≤1.0%）

合金生铁（含Cr、Mo等元素）

高纯生铁（Si≤0.8%，Ti≤0.045%）

检测方法

火花直读光谱法：ASTM E415 / GB/T 4336-2016

红外碳硫分析：ISO 15350 / GB/T 223.69-2008

电感耦合等离子体发射光谱：ASTM E2371 / GB/T 20975.25-2020

金相显微镜法：ASTM E3-11 / GB/T 13298-2015

X射线荧光光谱法：ISO 9516-1 / GB/T 24234-2009

检测设备

Thermo Fisher ARL 4460 直读光谱仪：0.001%元素检测限

LECO CS844 高频红外碳硫仪：检测范围0.0001%-6.0%

Olympus GX53 倒置金相显微镜：5000倍高清成像系统

PerkinElmer Optima 8300 ICP-OES：多元素同步检测系统

Bruker S8 TIGER X射线荧光光谱仪：0.01ppm检测灵敏度