检测项目

插入损耗：典型值≤0.3 dB（1310/1550 nm波长）

分光比误差：允许偏差±5%（1×8分路器为例）

回波损耗：≥55 dB（PC端面）或≥60 dB（APC端面）

偏振相关损耗（PDL）：≤0.1 dB（23℃±5℃）

温度稳定性：-40℃~+75℃范围内损耗变化≤0.5 dB

检测范围

平面波导型（PLC）分路器：基于二氧化硅或聚合物材料

熔融拉锥型（FBT）分路器：单模/多模光纤组合结构

不同端口配置：1×4、1×8、1×16、2×32等

封装类型：裸纤式、盒式、插片式、机架式

波长适应性：850 nm、1310 nm、1490 nm、1550 nm

检测方法

插入损耗测试：IEC 61300-3-2（剪断法）或GB/T 9771.1-2020

分光比测量：ISO/IEC 14763-3:2014（光谱分析法）

回波损耗检测：IEC 61300-3-6（OTDR反射法）

PDL评估：TIA-455-243-A（偏振扫描法）

环境试验：GB/T 2423.22-2012（温度循环测试）

检测设备

插入损耗测试仪：EXFO FTB-200，支持0.001 dB分辨率

分光比测试系统：Yokogawa AQ2200，波长范围600-1700 nm

回波损耗测试仪：Keysight N7783B，动态范围＞60 dB

温度试验箱：Espec T3-150，控温精度±0.5℃

光谱分析仪：Anritsu MS9740B，波长精度±0.01 nm