逻辑功能验证:测试覆盖率≥99%,输入组合深度32bit,输出响应时间≤5ns
时序特性分析:建立时间/保持时间偏差±0.15ns,时钟抖动≤50ps,传播延迟≤8ns
功耗特性测试:静态功耗≤10μA@3.3V,动态功耗≤50mW@100MHz
I/O电气特性:驱动能力±24mA,输入漏电流≤1μA,电压摆幅3.0-3.6V
环境适应性验证:工作温度-40℃~125℃,湿度耐受95%RH@85℃
工业控制用CPLD:Xilinx XC9500XL系列、Altera MAX II系列
汽车电子CPLD:Lattice MachXO3D系列,符合AEC-Q100认证
消费电子CPLD:Intel(Altera) MAX 10 FPGA/CPLD混合器件
通信设备CPLD:Microchip ProASIC3系列,支持PCIe Gen2接口
军工级CPLD:Actel RTAX-S系列,抗辐照剂量≥300krad(Si)
功能验证:ASTM FED-STD-750 Method 2005.1(矢量生成规范)
时序测试:IEC 60747-14-7:2019(数字集成电路时序参数测量)
功耗分析:GB/T 17554-2017(可编程器件功耗测试方法)
环境试验:ISO 11452-4:2020(大电流注入抗扰度测试)
可靠性验证:JEDEC JESD22-A108E(温度循环试验标准)
逻辑分析仪:Keysight U4154B,支持34通道@8GHz采样率
时序发生器:Tektronix DSA8300,时基精度±0.5ppm
热特性测试系统:Thermo Scientific T3Ster,结温测量精度±0.1℃
可编程负载系统:NI PXIe-4163,电流分辨率1μA
环境试验箱:ESPEC PL-3JPH,温变速率≥15℃/min
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"复杂可编程逻辑器件检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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