精硒检测

精硒检测是评估高纯度硒材料理化性能的关键过程,涵盖纯度、杂质元素、物理形态等核心指标。检测需依据ASTM、ISO、GB/T等标准,采用精密仪器对电子级硒、光伏材料等样品进行定量分析,确保其满足半导体、光学及冶金工业的严苛要求。本文系统阐述检测项目、方法及适用范围,为质量控制提供技术参考。

原创阅读 152025-03-19工程师CMACNASISO高新技术企业

检测项目

纯度测定:硒含量(99.9%-99.999%),差示扫描量热法(DSC)

杂质元素分析:As、Te、Hg等20种痕量元素(检测限0.1-5 ppm),ICP-MS法

物理形态表征:粉末粒度(1-50 μm)、晶型结构(XRD分析)

水分含量:卡尔费休法(检测范围0.001%-0.1%)

密度检测:比重瓶法(4.25-4.80 g/cm³)

粒度分布:激光衍射法(D50值±0.5 μm误差)

检测范围

电子级硒:半导体靶材、光电探测器封装材料

光伏材料:铜铟镓硒(CIGS)薄膜太阳能电池

光学玻璃:红外透镜、激光窗口用硒化合物

冶金添加剂:不锈钢脱氧剂、合金改性剂

化工催化剂:橡胶硫化促进剂、染料合成催化剂

检测方法

ASTM E2972:高纯硒中杂质元素的电感耦合等离子体质谱法

ISO 18134-3:固体生物质样品水分含量测定

GB/T 4325.23:非金属材料硒含量测定—氢化物发生原子吸收法

GB/T 1479.1:金属粉末松装密度检测规范

ISO 13320:激光衍射法粒度分析通则

检测设备

电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS):PerkinElmer NexION 350D,检测限达0.01 ppb

卡尔费休水分测定仪:Metrohm 899 Coulometer,分辨率0.1 μg H2O

激光粒度分析仪:Malvern Mastersizer 3000,测量范围0.01-3500 μm

X射线衍射仪(XRD):Bruker D8 Advance,角度精度±0.0001°

密度测定系统:Quantachrome Ultrapyc 5000,支持氦气置换法

扫描电子显微镜(SEM):Hitachi SU5000,分辨率1.0 nm@15 kV

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

QUALIFICATIONS

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