检测项目
粒度分布：D10/D50/D90值测定（范围0.1-3500μm）
平均粒径：体积平均径/数量平均径（精度±0.5%）
比表面积：BET法测定（分辨率0.01m²/g）
颗粒形貌：球形度/长径比（电子显微镜200000倍率）
杂质含量：非金属夹杂物检测（检出限0.01wt%）
检测范围
金属粉末：钛合金/铝合金/钴铬合金（3D打印原料）
陶瓷原料：氧化铝/氮化硅/碳化硅（电子元件基材）
高分子材料：聚乙烯微球/聚苯乙烯颗粒（色谱填料）
医药辅料：乳糖/微晶纤维素（片剂成型剂）
纳米材料：二氧化硅/碳纳米管（催化剂载体）
检测方法
激光衍射法：ASTM B822-20 / ISO 13320 / GB/T 19077-2016
动态光散射法：ISO 22412-2017 / GB/T 39689-2020
筛分分析法：ASTM E11-20 / GB/T 6003.1-2012
图像分析法：ISO 13322-2-2021 / GB/T 21649.1-2008
气体吸附法：ISO 9277-2010 / GB/T 19587-2017
检测设备
马尔文 Mastersizer 3000：激光衍射系统（0.01-3500μm）
贝克曼库尔特 LS13320：干湿法两用粒度仪（0.04-2000μm）
堀场 Horiba LA-960：动态光散射纳米粒度仪（0.3nm-10μm）
麦克 TriStar II Plus：全自动比表面分析仪（0.0005m²/g）
蔡司 Sigma500：场发射扫描电镜（分辨率1.0nm）