


粒度分布:D10/D50/D90值测定(范围0.1-3500μm)
平均粒径:体积平均径/数量平均径(精度±0.5%)
比表面积:BET法测定(分辨率0.01m²/g)
颗粒形貌:球形度/长径比(电子显微镜200000倍率)
杂质含量:非金属夹杂物检测(检出限0.01wt%)
金属粉末:钛合金/铝合金/钴铬合金(3D打印原料)
陶瓷原料:氧化铝/氮化硅/碳化硅(电子元件基材)
高分子材料:聚乙烯微球/聚苯乙烯颗粒(色谱填料)
医药辅料:乳糖/微晶纤维素(片剂成型剂)
纳米材料:二氧化硅/碳纳米管(催化剂载体)
激光衍射法:ASTM B822-20 / ISO 13320 / GB/T 19077-2016
动态光散射法:ISO 22412-2017 / GB/T 39689-2020
筛分分析法:ASTM E11-20 / GB/T 6003.1-2012
图像分析法:ISO 13322-2-2021 / GB/T 21649.1-2008
气体吸附法:ISO 9277-2010 / GB/T 19587-2017
马尔文 Mastersizer 3000:激光衍射系统(0.01-3500μm)
贝克曼库尔特 LS13320:干湿法两用粒度仪(0.04-2000μm)
堀场 Horiba LA-960:动态光散射纳米粒度仪(0.3nm-10μm)
麦克 TriStar II Plus:全自动比表面分析仪(0.0005m²/g)
蔡司 Sigma500:场发射扫描电镜(分辨率1.0nm)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"均一粒度原料检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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