检测项目
总二氧化硅含量：测定范围0.1%-99.9%，精度±0.5%
游离二氧化硅形态：α-石英/方石英/鳞石英定量分析
粒径分布特征：D10/D50/D90值测定（0.1-100μm）
比表面积：BET法测定（0.01-2000m²/g）
元素杂质分析：Al₂O₃/Fe₂O₃/CaO等氧化物含量（ppm级）
检测范围
冶金辅料：硅铁合金渣、金属硅粉体
耐火材料：硅砖、熔融石英制品
铸造用砂：覆膜砂、水玻璃砂
光伏硅料：多晶硅切割废料、单晶硅碎片
陶瓷原料：高岭土、石英岩粉体
检测方法
X射线衍射法（ASTM D4326, GB/T 30905）
红外分光光度法（ISO 16258-1, GB/T 16484）
激光散射粒度分析（ISO 13320, GB/T 19077）
热重-差示扫描量热联用（ISO 11358, GB/T 19469）
电感耦合等离子体发射光谱（ASTM E1479, GB/T 20975）
检测设备
X射线衍射仪：Rigaku SmartLab（物相分析/半定量测定）
激光粒度分析仪：Malvern Mastersizer 3000（湿法/干法分散）
傅里叶红外光谱仪：Thermo Nicolet iS50（特征官能团识别）
比表面孔隙度仪：Micromeritics ASAP 2460（BET多点法测定）
同步热分析仪：NETZSCH STA 449 F5（氧化反应特性分析）