检测项目

纯度测定：≥99.5%（电子级）/≥98.0%（工业级），采用差示扫描量热法（DSC）与化学滴定法双重验证

硫硒元素比：1.98-2.02:1（摩尔比），允许偏差±0.03

粒径分布：D50值控制在0.5-5.0μm区间，D90≤8.0μm（激光衍射法）

重金属杂质：As≤5ppm、Pb≤10ppm、Hg≤0.5ppm（ICP-MS法）

热稳定性测试：200℃恒温4h质量损失率≤0.5%（TGA法）

检测范围

电子材料：半导体器件用高纯二硫化硒靶材

化工催化剂：加氢脱硫反应体系催化剂载体

医药中间体：抗真菌药物合成原料批次监测

光学镀膜材料：红外窗口涂层用纳米级粉末

润滑剂添加剂：高温润滑脂改性组分含量分析

检测方法

ASTM E1621-22：X射线荧光光谱法测定硫/硒元素比例

ISO 11885:2007：电感耦合等离子体发射光谱法测定主量元素

GB/T 19077-2016：激光衍射法粒度分布测试通则

GB/T 23942-2009：化学试剂电感耦合等离子体质谱通则

ISO 11358-1:2022：热重分析法测定材料热稳定性

检测设备

Thermo Scientific ARL QUANT'X EDXRF：配备硅漂移探测器（SDD），元素分析范围B-U

Agilent 7900 ICP-MS：质量数范围3-270amu，检出限达ppt级

Malvern Mastersizer 3000：测量范围0.01-3500μm，干湿法双模式运行

NETZSCH STA 449 F5 Jupiter®：同步热分析仪，温度范围RT-1600℃

METTLER TOLEDO DSC3+：灵敏度0.04μW，升温速率0.01-300K/min