检测项目

分辨率测试:空间频率≥200 lp/mm(线对/毫米),MTF值≥0.6@100 lp/mm

表面形貌分析:粗糙度Ra≤0.8 nm(RMS值),面形精度PV≤λ/10(λ=632.8 nm)

透射率测量:可见光波段(400-700 nm)平均透射率≥99.2%

畸变率检测:径向畸变≤0.05%,切向畸变≤0.03%

环境耐受性:温度循环(-50℃~+120℃)500次后性能衰减<3%

检测范围

光学玻璃透镜(BK7、Fused Silica等)

树脂基非球面镜片(CR-39、PC材料)

半导体光刻用投影透镜组

红外硫系玻璃透镜(Ge20Sb15S65等)

金属镀膜反射式电子透镜

检测方法

ISO 9334:2012 光学系统畸变测试方法

ASTM E112-13 晶粒度测定与图像分析法

GB/T 26331-2010 光学透射率测量规范

ISO 10110-5:2015 表面缺陷公差标注标准

GB/T 7661-2009 光学零件面形误差检验方法

检测设备

Zygo Verifire MST干涉仪:波长632.8nm,精度λ/1000 PV值测量

Cary 7000紫外可见分光光度计:光谱范围175-3300nm,分辨率0.05nm

TRIOPTics OptiCentric双轴偏心仪:角度分辨率0.1arcsec

Mitutoyo PH-3500投影仪:放大倍率50X-500X,重复精度±0.5μm

Aberlink Croma三坐标测量机:空间精度(1.9+L/250)μm(L单位mm)