检测项目

导体直流电阻：测量范围0.1mΩ-10Ω，精度±0.5%

绝缘电阻：测试电压500V DC，阻值≥100MΩ

叠片间隙尺寸：公差±0.02mm，平面度≤0.05mm/m

导体表面质量：粗糙度Ra≤1.6μm，无可见氧化层

耐压强度：AC 3kV/1min无击穿或闪络

检测范围

硅钢片叠层电枢（厚度0.35-0.5mm）

铜合金扁线导体（截面积2-50mm²）

环氧树脂浸渍绝缘系统

纳米晶带材复合电枢

高压电机用云母带包覆导体

检测方法

GB/T 3048.2-2007《电线电缆电性能试验方法 第2部分：金属材料电阻率试验》

ASTM D257-14《绝缘材料直流电阻或电导的标准试验方法》

ISO 12181-1:2011《几何产品规范(GPS) 圆度测量》

GB/T 1408.1-2016《绝缘材料电气强度试验方法》

IEC 60034-27-4:2018《旋转电机绝缘电阻评估导则》

检测设备

KEITHLEY 2450源表：四线制微欧级电阻测量（分辨率0.1μΩ）

HIOKI IR4056-20绝缘测试仪：500V/1000V双量程（精度±3%）

MITUTOYO LSM-902S激光测微计：非接触式尺寸测量（重复精度0.5μm）

OLYMPUS DSX1000数码显微镜：500倍表面形貌分析（带能谱EDS选件）

HAEFELY Hipot Tester 750：交流耐压测试（输出容量10kVA）