检测项目
导体直流电阻：测量范围0.1mΩ-10Ω，精度±0.5%
绝缘电阻：测试电压500V DC，阻值≥100MΩ
叠片间隙尺寸：公差±0.02mm，平面度≤0.05mm/m
导体表面质量：粗糙度Ra≤1.6μm，无可见氧化层
耐压强度：AC 3kV/1min无击穿或闪络
检测范围
硅钢片叠层电枢（厚度0.35-0.5mm）
铜合金扁线导体（截面积2-50mm²）
环氧树脂浸渍绝缘系统
纳米晶带材复合电枢
高压电机用云母带包覆导体
检测方法
GB/T 3048.2-2007《电线电缆电性能试验方法 第2部分：金属材料电阻率试验》
ASTM D257-14《绝缘材料直流电阻或电导的标准试验方法》
ISO 12181-1:2011《几何产品规范(GPS) 圆度测量》
GB/T 1408.1-2016《绝缘材料电气强度试验方法》
IEC 60034-27-4:2018《旋转电机绝缘电阻评估导则》
检测设备
KEITHLEY 2450源表：四线制微欧级电阻测量（分辨率0.1μΩ）
HIOKI IR4056-20绝缘测试仪：500V/1000V双量程（精度±3%）
MITUTOYO LSM-902S激光测微计：非接触式尺寸测量（重复精度0.5μm）
OLYMPUS DSX1000数码显微镜：500倍表面形貌分析（带能谱EDS选件）
HAEFELY Hipot Tester 750：交流耐压测试（输出容量10kVA）