检测项目
暗电流密度：测量范围1×10⁻¹²~1×10⁻⁴ A/cm²，精度±2%
光电流响应时间：测试范围10 ns~10 s，分辨率0.1 ns
光强-电导率曲线：光照强度0.1~100 mW/cm²可调
载流子寿命：测试精度±5%，温度控制-50℃~150℃
光谱响应特性：波长覆盖200~2000 nm，单色仪带宽≤5 nm
检测范围
半导体材料：硅(Si)、砷化镓(GaAs)、氮化镓(GaN)
二维材料：石墨烯、二硫化钼(MoS₂)、黑磷
有机光电材料：P3HT、PCBM及其共混体系
量子点材料：CdSe/ZnS核壳结构、钙钛矿量子点
光电器件：光电探测器、太阳能电池模块
检测方法
ASTM F3980-22：半导体材料光致载流子输运特性测试规范
ISO 17862:2020：纳米材料光电性能表征通用方法
GB/T 39142-2020：晶体硅光伏器件暗电流测试方法
IEC 62607-6-3:2021：纳米制造-关键控制特性-第6-3部分：二维材料光电导性
GB/T 6495.3-2021：光伏器件第3部分：光谱响应的测量
检测设备
Keithley 4200A-SCS参数分析仪：支持pA级电流分辨率与100μs级脉冲测量
Newport Oriel Sol3A模拟太阳光源系统：AM1.5G光谱匹配度±2%
Agilent B1500A半导体器件分析仪：带宽达10MHz的波形发生器模块
Labsphere LMS-900光谱辐射计：波长精度±0.2nm的绝对辐射校准系统
Cryostation S200低温恒温器：实现4K~500K变温环境控制