检测项目

暗电流密度：测量范围1×10⁻¹²~1×10⁻⁴ A/cm²，精度±2%

光电流响应时间：测试范围10 ns~10 s，分辨率0.1 ns

光强-电导率曲线：光照强度0.1~100 mW/cm²可调

载流子寿命：测试精度±5%，温度控制-50℃~150℃

光谱响应特性：波长覆盖200~2000 nm，单色仪带宽≤5 nm

检测范围

半导体材料：硅(Si)、砷化镓(GaAs)、氮化镓(GaN)

二维材料：石墨烯、二硫化钼(MoS₂)、黑磷

有机光电材料：P3HT、PCBM及其共混体系

量子点材料：CdSe/ZnS核壳结构、钙钛矿量子点

光电器件：光电探测器、太阳能电池模块

检测方法

ASTM F3980-22：半导体材料光致载流子输运特性测试规范

ISO 17862:2020：纳米材料光电性能表征通用方法

GB/T 39142-2020：晶体硅光伏器件暗电流测试方法

IEC 62607-6-3:2021：纳米制造-关键控制特性-第6-3部分：二维材料光电导性

GB/T 6495.3-2021：光伏器件第3部分：光谱响应的测量

检测设备

Keithley 4200A-SCS参数分析仪：支持pA级电流分辨率与100μs级脉冲测量

Newport Oriel Sol3A模拟太阳光源系统：AM1.5G光谱匹配度±2%

Agilent B1500A半导体器件分析仪：带宽达10MHz的波形发生器模块

Labsphere LMS-900光谱辐射计：波长精度±0.2nm的绝对辐射校准系统

Cryostation S200低温恒温器：实现4K~500K变温环境控制