检测项目

波长精度：±0.2nm（400-800nm波段）

光强稳定性：≤±1%/h（连续工作模式）

半峰宽（FWHM）：≤3nm（典型值）

偏振特性：消光比≥100:1（632.8nm）

空间均匀性：≤±5%（光束直径50mm内）

检测范围

光学玻璃及晶体材料（如熔融石英、氟化钙晶体）

半导体发光器件（LED芯片、激光二极管）

窄带滤光片（带通型、陷波型）

光纤通信组件（波分复用器/解复用器）

荧光标记物与生物传感器

检测方法

分光光度法：ASTM E275-08(2022)《分光光度计性能验证》

光电探测器法：ISO 13655:2017《光谱与几何测量方法》

干涉仪法：GB/T 26331-2010《光学薄膜元件测试方法》

光谱辐射计法：GB/T 13323-2009《辐射度测量术语》

CCD成像分析法：ISO 11146-3:2022《激光束宽度测试方法》

检测设备

Ocean Optics HR4000高分辨率光谱仪（波长范围200-1100nm）

Agilent Cary 7000全能型分光光度计（支持透射/反射/吸收全模式）

Newport 1918-C光功率计（量程10pW-2W,精度±0.8%）

Thorlabs PAX1000偏振分析仪（波长覆盖400-700nm）

Bentham ILX-19积分球系统（直径500mm,符合CIE No.127标准）