检测项目

钠离子（Na⁺）浓度测定：检测范围0.01-500 ppm，允许偏差±5%

氯离子（Cl⁻）分布分析：分辨率达0.1 μm²/点，检出限0.05 μg/cm²

钾离子（K⁺）迁移率测试：温度梯度20-80℃，湿度控制30-90% RH

钙镁离子（Ca²⁺/Mg²⁺）总量测定：采用EDTA滴定法，精度±0.5 mmol/L

硫酸根（SO₄²⁻）结晶形态表征：XRD半定量分析，角度范围5-80°(2θ)

检测范围

半导体晶圆及封装材料

光学镀膜玻璃与镜片

金属电镀层与阳极氧化膜

高分子聚合物薄膜

精密电子元器件外壳

检测方法

ASTM D4327-17 阴离子色谱法测定水中常见阴离子

ISO 17081:2014 金属材料氢渗透测量方法

GB/T 20127.7-2020 钢铁表面残余盐分的光谱分析法

ISO 15472:2010 X射线光电子能谱表面分析通则

GB/T 38520-2020 光学元件表面洁净度测试方法

检测设备

Thermo Scientific Dionex ICS-6000：高压离子色谱系统，支持7种阴/阳离子同步分析

Hitachi SU8200冷场发射电镜：配备EDX能谱仪，元素检出限达0.1 wt%

Malvern Panalytical Empyrean XRD：具备薄膜附件模块，最小光斑尺寸50 μm

Agilent 8900 ICP-MS/MS：质量分辨率＞10,000，检出限低至ppt级

Bruker ContourGT-K光学轮廓仪：垂直分辨率0.1 nm，扫描面积100×100 mm²