检测项目
1. 粒度分布测定：测量10nm-3500μm范围内颗粒体积/数量分布
2. D10/D50/D90值分析：表征累积分布10%、50%、90%对应的特征粒径
3. 比表面积计算：基于BET理论测定0.01-2000m²/g比表面积范围
4. 颗粒形貌表征：圆形度≥0.85判定为球形颗粒
5. Zeta电位测试：测量±100mV范围内颗粒表面电荷特性
6. 堆密度测定：按GB/T 16913-2008测定松散与振实密度差异
检测范围
1. 金属粉末：钛合金、316L不锈钢等增材制造原料
2. 陶瓷材料：氧化铝、氮化硅等精密结构陶瓷粉体
3. 制药辅料：微晶纤维素、乳糖等固体制剂原料
4. 电池材料：锂电正极三元材料、石墨负极粉体
5. 环境样品：大气PM2.5、土壤沉积物颗粒物
6. 食品添加剂：二氧化硅抗结剂、乳化剂微胶囊
检测方法
1. 激光衍射法：ISO 13320:2020《粒度分析-激光衍射法》
2. 动态光散射法：GB/T 29022-2012《纳米颗粒粒度分布测定》
3. 筛分分析法：ASTM B214-16《金属粉末筛分标准方法》
4. 图像分析法：ISO 13322-2:2021《静态图像分析法》
5. 气体吸附法：GB/T 19587-2017《气体吸附BET法测定比表面积》
6. 电泳光散射法：ISO 13099-3:2014胶体Zeta电位测定
检测设备
1. Mastersizer 3000（马尔文帕纳科）：激光衍射仪，量程10nm-3500μm
2. Zetasizer Ultra（马尔文帕纳科）：动态光散射仪，支持0.3nm-10μm测量
3. BT-9300ST（丹东百特）：激光粒度仪内置超声分散系统
4. NSK-330A（麦奇克拜尔）：纳米粒度及Zeta电位联用仪
5. S3500（美国麦克仪器）：全自动筛分振动台套组
6. JEOL JSM-7900F（日本电子）：场发射扫描电镜搭配颗粒统计软件
7. TriStar II Plus（美国麦克仪器）：BET比表面及孔隙度分析仪
8. CAMSIZER X2（德国新帕泰克）：动态图像分析系统
9. LA-960V2（日本堀场）：干湿法两用激光粒度仪
10. FPIA-3000（日本岛津）：流动式粒子图像分析仪