检测项目

1. 主成分纯度：采用差示扫描量热法测定HgI₂含量≥99.5%

2. 水分含量：卡尔费休法控制游离水≤0.1%

3. 重金属杂质：ICP-MS检测铅≤5ppm、镉≤2ppm

4. 溶解性测试：25℃下在10%KI溶液中的溶解度≥8g/100mL

5. 粒度分布：激光衍射法测定D50值10-50μm

6. 晶型结构：XRD分析α-HgI₂四方晶系特征峰匹配度

7. 热稳定性：TGA测定分解温度≥130℃

检测范围

1. 化学试剂级碘化高汞（CAS 7774-29-0）

2. X射线探测晶体材料

3. 光电子半导体器件涂层

4. 热成像系统用红外窗口材料

5. 核辐射屏蔽复合材料

6. 实验室合成中间体

7. 工业催化剂残留物

检测方法

ASTM E177-20《化学分析实验室质量控制规范》

ISO 17034:2016《标准物质/标准样品生产者能力要求》

GB/T 23945-2009《无机化工产品中重金属测定通用方法》

GB/T 6283-2008《化工产品中水分含量的测定卡尔·费休法》

USP<731>重金属限量检查法（电感耦合等离子体质谱法）

JIS K 8001:1998《化学试剂通则（结晶性试验）》

检测设备

1. Thermo Fisher iCAP RQ ICP-MS：痕量重金属元素定量分析（检出限0.01ppb）

2. Mettler Toledo TGA/DSC3+：同步热分析仪（温度精度±0.1℃）

3. Malvern Mastersizer 3000：激光粒度分析仪（测量范围0.01-3500μm）

4. Bruker D8 ADVANCE XRD：X射线衍射仪（Cu靶Kα辐射λ=1.5406Å）

5. Metrohm 899 Coulometer：库仑法水分测定仪（分辨率0.1μg）

6. Agilent 1260 Infinity II HPLC：高效液相色谱系统（C18色谱柱）

7. PerkinElmer Lambda 950 UV-Vis：紫外可见分光光度计（波长范围175-3300nm）

8. Shimadzu EDX-7000：能量色散X射线荧光光谱仪（Na-U元素分析）

9. Sartorius CPA225D：百万分之一分析天平（最大称量220g）

10. Memmert UN110恒温干燥箱：温度均匀性±0.8℃@200℃