粒度控制检测

粒度控制检测是材料科学和工业生产中的关键环节,通过精确测量颗粒尺寸及分布特性确保产品性能与工艺稳定性。核心检测参数包括粒度分布、D50值、比表面积等,适用于金属粉末、陶瓷原料、药品颗粒等多种材料。本检测遵循ASTM、ISO及GB/T标准体系,采用激光衍射法、动态光散射法等技术手段实现高精度分析。

原创阅读 172025-03-24工程师CMACNASISO高新技术企业

检测项目

1.粒度分布测定:测量0.1μm-3000μm范围内的颗粒尺寸频率分布

2.D50值测定:确定样品中位粒径及D10/D90分位值

3.比表面积分析:通过BET法测量0.01-1000m²/g的表面积参数

4.颗粒形貌表征:获取球形度、长径比(1:1-10:1)等形态学参数

5.Zeta电位测试:测定-200mV至+200mV范围内的颗粒表面电荷特性

检测范围

1.金属粉末:钛合金、不锈钢等增材制造用粉末(15-150μm)

2.陶瓷原料:氧化铝、氮化硅等电子元件材料(0.5-50μm)

3.药品颗粒:片剂崩解度相关的微晶纤维素(10-200μm)

4.涂料填料:二氧化钛、碳酸钙等纳米级分散体系(20-500nm)

5.土壤沉积物:环境监测用黏土/砂砾分级(2μm-2mm)

检测方法

1.ASTMB822-20:金属粉末粒度分布的激光衍射标准方法

2.ISO13320:2020:粒径分析激光衍射法的通用实施规范

3.GB/T19077-2016:粒度分布激光衍射法的国家标准

4.ISO22412:2017:动态光散射法纳米颗粒测量标准

5.GB/T21649.1-2008:图像分析法测定颗粒形貌的国家标准

检测设备

1.Mastersizer3000(马尔文帕纳科):激光衍射法测量0.01-3500μm粒度分布

2.NanosightNS300(马尔文帕纳科):动态光散射法分析10-2000nm纳米颗粒

3.TriStarIIPlus(麦克仪器):BET法比表面积与孔隙度分析仪

4.S3500系列(Microtrac):干湿法两用激光粒度分析系统

5.HELOS/RODOS(新帕泰克):气溶胶分散式粒径分析系统

6.ZetasizerUltra(马尔文帕纳科):Zeta电位与分子量联用分析仪

7.PhenomProX(赛默飞世尔):台式扫描电镜(SEM)形貌分析系统

8.CAMSIZERX2(麦奇克):动态图像法颗粒形态分析仪

9.LA-960V2(堀场制作所):全自动湿法激光粒度仪

10.BT-9300HT(丹东百特):高温高压环境激光粒度分析系统

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

QUALIFICATIONS

旗下实验室 · 资质荣誉

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