检测项目

1.纯度分析：通过热重法（TGA）测定碳质含量≥85%，金属催化剂残留≤15%

2.直径分布：透射电镜（TEM）测量管径0.8-2.0nm范围内占比≥90%

3.手性指数：拉曼光谱G/D峰强度比＞20，(n,m)指数分布符合Armchair/Metallic/Zigzag分类

4.表面官能团：X射线光电子能谱（XPS）检测含氧基团含量≤5at%

5.缺陷密度：近红外吸收光谱（NIR）测定半导体型占比＞60%，缺陷诱导吸收峰强度＜0.1AU

检测范围

1.电子级SWCNT薄膜材料（透光率＞85%，方阻＜100Ω/sq）

2.复合材料用SWCNT母粒（分散相含量0.1-5wt%）

3.生物医用SWCNT悬浮液（Zeta电位绝对值＞30mV）

4.储能器件用SWCNT导电剂（比表面积＞400m²/g）

5.光学器件用SWCNT阵列（取向度＞90%）

检测方法

1.ISO/TS21346:2021《纳米技术-单壁碳纳米管热重分析法测定金属杂质》

2.ASTME2851-21《拉曼光谱法表征碳纳米管手性分布标准指南》

3.GB/T38073-2019《纳米材料透射电子显微镜分析方法》

4.ISO19749:2021《扫描电子显微镜法测定纳米颗粒尺寸分布》

5.GB/T40007-2021《纳米材料比表面积测试BET法》

检测设备

1.HORIBALabRAMHREvolution拉曼光谱仪：532/785nm双激光源，分辨率0.35cm⁻¹

2.PerkinElmerTGA8000热重分析仪：温度范围25-1000℃，精度±0.1μg

3.JEOLJEM-ARM300F球差校正透射电镜：点分辨率0.08nm

4.MalvernZetasizerNanoZSP动态光散射仪：粒径测量范围0.3nm-10μm

5.ThermoScientificK-AlphaXPS系统：单色AlKα源（1486.6eV）

6.ShimadzuUV-3600iPlus分光光度计：波长范围185-3300nm

7.QuantachromeAutosorb-iQ全自动比表面分析仪：孔径分析范围3.5-5000Å

8.BrukerDimensionIcon原子力显微镜：ScanAsyst模式分辨率0.1nm

9.AgilentCary610/670傅里叶变换红外光谱仪：光谱范围7800-350cm⁻¹

10.HitachiSU9000场发射扫描电镜：二次电子分辨率0.6nm@15kV