检测项目

1.输出波长范围：400-4500nm连续可调谐性验证

2.光谱线宽：单纵模线宽≤0.1nm@1064nm基准测试

3.功率稳定性：8小时连续工作功率波动≤1.5%

4.转换效率：基频光至信号光转换率≥35%

5.温度敏感性：工作温度变化2℃时波长漂移≤0.05nm

检测范围

1.非线性光学晶体：KTP、BBO、LBO晶体元件

2.激光增益介质：Nd:YAG/Nd:YLF激光模块

3.光学镀膜元件：二向色镜/高反镜（HR＞99.8%）

4.光纤耦合器件：PM980保偏光纤组件

5.半导体材料：InGaAs光电探测器响应特性

检测方法

1.ASTME387-19光谱辐射度测量标准方法

2.ISO13695:2019光学与光子学-激光线宽测试规范

3.GB/T15175-2012激光功率稳定性测试规程

4.IEC60825-1:2014激光产品安全等级评估

5.GB/T31359-2015非线性光学晶体参数测量方法

检测设备

1.YokogawaAQ6375E光谱分析仪（350-5500nm）

2.OphirNovaII激光功率计（0.1μW-30W）

3.Bristol621A波长计（精度0.0001nm）

4.APEWaveScan激光线宽分析仪（分辨率＜10MHz）

5.ThorlabsPM320E偏振态分析系统

6.AgilentN9020A射频信号分析仪（20Hz-26.5GHz）

7.Newport1918-C光功率传感器（0.1nW-2W）

8.ThermoScientificTS-4XRS高精度温控系统（0.01℃）

9.HamamatsuC13284光电探测阵列（200-1700nm）

10.KeysightDSOX92504A示波器（25GHz带宽）