


1.光学延迟量测量:波长范围380-1600nm,精度0.1nm
2.偏振度分析:测量范围0-100%,分辨率0.01%
3.消光比测试:动态范围≥60dB@632.8nm
4.穆勒矩阵元素测定:16个矩阵元测量误差≤0.005
5.双折射率表征:分辨率110⁻⁶@546nm
1.液晶显示材料:TFT-LCD面板的相位延迟特性分析
2.光学薄膜:偏光片、相位差膜的透射偏振特性测试
3.光纤器件:保偏光纤双折射参数测量
4.晶体材料:石英晶体、铌酸锂晶体的旋光特性表征
5.镀膜元件:AR/IR镀膜的偏振相关损耗评估
ASTMD7177-21《偏振光法测定沥青混合料均匀性标准试验方法》
ISO21501-4:2018《粒度分析单粒子光相互作用法第4部分:洁净室用光散射尘埃粒子计数器》
GB/T18990-2021《液晶显示器件测试方法》第6.3节偏振特性测试
GB/T26323-2010《光学功能薄膜表面硬度测试方法》偏振干涉法
ISO13696:2002《光学和光子学激光器和激光相关设备光学元件激光诱导损伤阈值的测定》
1.ThorlabsPAX1000:波长范围400-1100nm的通用型偏振分析仪
2.Agilent8509C:50MHz-60GHz宽带光偏振分析系统
3.JASCOJ-1500:紫外-可见圆二色光谱仪(带穆勒矩阵测量模块)
4.HindsPEM-100:光弹调制型双折射测量仪(精度0.05nm)
5.EXFOPSO-201:保偏光纤偏振消光比测试系统(动态范围70dB)
6.MeadowlarkOpticsSWIFT:高速穆勒矩阵椭偏仪(测量速率100Hz)
7.HamamatsuC13570:近红外偏振成像相机(InGaAs传感器)
8.LunaTechnologiesOVA5000:分布式光纤偏振耦合测试仪
9.OptoGrationMPA-1000:微区偏振分析系统(空间分辨率1μm)
10.NeXusTechnologiesBX-POL:宽光谱双折射测量系统(250-2500nm)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"极化计检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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凭借专业团队和先进设备,致力于为企业研发、质量控制及市场准入提供精准可靠的技术支撑,助力品质提升与合规发展。