检测项目
1.同位素比值精度：测量235U/238U、13C/12C等比值偏差（0.01%～0.1%）
2.元素丰度检出限：涵盖Li至U元素范围（LOD：0.01～10ppm）
3.痕量杂质分布均匀性：分析样品表面/内部杂质浓度差异（RSD≤5%）
4.动态范围线性度：验证10-9～10-3浓度区间的响应线性（R≥0.999）
5.质量歧视效应校正：评估质量数80-240区间信号偏差（校正因子0.95-1.05）
检测范围
1.地质样品：火成岩、沉积岩中稀土元素及放射性同位素丰度
2.环境样本：大气颗粒物PM2.5中重金属（Pb、Cd、As）痕量分布
3.半导体材料：高纯硅片中B、P掺杂浓度梯度分析
4.生物医药材料：药物活性成分中氘代标记物含量测定
5.核工业材料：铀浓缩工艺中六氟化铀同位素分馏效应
检测方法
1.ASTMD6348：电感耦合等离子体质谱法测定环境样品中痕量元素
2.ISO17294-2：水质分析中同位素稀释质谱技术应用规范
3.GB/T20127-2006：金属材料痕量元素分布的电子探针分析法
4.ASTME3059：辉光放电质谱法测定高纯材料杂质含量
5.GB/T40111-2021：二次离子质谱法表征半导体材料掺杂浓度
检测设备
1.ThermoScientificELEMENTXR：高分辨电感耦合等离子体质谱仪（分辨率＞10,000）
2.Agilent8900ICP-MS/MS：三重四极杆质谱系统（检出限＜0.1ppt）
3.CAMECAIMS7f-Auto：二次离子质谱仪（空间分辨率50nm）
4.NuInstrumentsSapphire：多接收电感耦合等离子体质谱仪（同位素比精度0.002%）
5.PerkinElmerNexION5000：四极杆ICP-MS（质量数范围3～300amu）
6.JEOLJXA-8530FPlus：场发射电子探针（波谱仪分辨率5eV）
7.ThermoFisherMAT253Plus：同位素比质谱仪（δ13C精度0.03‰）
8.BrukerAuroraM90：辉光放电质谱仪（深度分辨率1nm）
9.ShimadzuICPE-9820：全谱直读ICP光谱仪（光学分辨率0.003nm）
10.WatersXevoTQ-XS：三重四极杆液质联用仪（MRM模式灵敏度1fg）